[发明专利]一种单向NPN穿通型超低压TVS结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810473559.4 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN108899312A 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 薛维平;关世瑛;王金秋 申请(专利权)人: 上海芯石半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/822
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 半导体IC 穿通 过压保护 击穿电压 超低压 击穿 二极管 漏电 驱动电压 基区 制备 低驱动电压 隧道效应 雪崩击穿 制造工艺 最小线宽 保证
【权利要求书】:

1.一种单向NPN穿通型超低压TVS结构,其结构包括:NPN区301、NP区302、DN隔离区303以及DN连通区304,

A、NPN区301结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,钝化层部分打开,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连且通过正面金属与NP区302的SN相连;

B、NP区302结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN和SP,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连,且SN通过正面金属与NPN区301的SN相连,SP与正面金属相连,且SP通过正面金属与DN连通区304的SN相连,NP区302内的SN与SP不相连;

C、DN隔离区303结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连;

D、DN连通区304结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连,SN与正面金属相连,且通过正面金属与NP区302的SP相连。

2.一种单向NPN穿通型超低压TVS的制备方法,其方法包括:

A、衬底211的准备及外延层212的制备,在N型低阻单晶硅上,生长P型高阻单晶硅层;

B、DN221制备,通过POCL3工艺掺杂,高温扩散至DN与衬底211连通;

C、SP231制备,离子注入高浓P型杂质;

D、DP241制备,离子注入P型杂质,高温退火;

E、SN251制备,通过POCL3工艺掺杂P元素,高温退火;

F、引线孔制备,SiO2层261淀积,光刻,SiO2刻蚀;

G、正面金属271制备,金属层淀积,光刻,金属层刻蚀,去胶;

H、钝化层281制备,SiO2淀积,SiN淀积,光刻,SiN刻蚀,SiO2刻蚀,去胶;

I、背面减薄及背面金属291化。

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