[发明专利]一种随钻方位侧向电阻率测量探头和钻铤

说明书

本发明提供了一种随钻方位侧向电阻率测量探头和钻铤，随钻方位侧向电阻率测量探头包括：基体，其上设置有定位孔；方位侧向电极，位于定位孔内；和绝缘层，设置于定位孔的孔壁和方位侧向电极之间、并密封连接基体和方位侧向电极。绝缘层的外侧设置有基体，基体对绝缘层进行保护，随钻方位侧向电阻率测量探头长时间工作在随钻振动与冲击环境下、并且与井壁发生摩擦，不会使绝缘层产生裂纹，可有效确保随钻方位侧向电阻率测量探头密封性能和绝缘性能，避免对成像测量结果造成影响。

技术领域

本文涉及机械技术领域，尤指一种随钻方位侧向电阻率测量探头和钻铤。

背景技术

现有的随钻方位侧向电阻率测量探头通常采用玻璃烧结技术制作，烧结的玻璃外露，长时间工作在随钻振动与冲击环境下、并且与井壁发生摩擦，最终会使烧结的玻璃会产生裂纹，造成随钻方位侧向电阻率测量探头密封性能和绝缘性能下降，将影响成像测量结果。

发明内容

为了解决上述技术问题中的至少之一，本文提供了一种随钻方位侧向电阻率测量探头，其使用性能和密封性能均较好，不会影响成像测量结果。

本文提供的随钻方位侧向电阻率测量探头，包括：基体，其上设置有定位孔；方位侧向电极，位于所述定位孔内；和绝缘层，设置于所述定位孔的孔壁和所述方位侧向电极之间、并密封连接所述基体和所述方位侧向电极。

可选地，所述绝缘层包括：玻璃绝缘层，烧结于所述定位孔的孔壁和所述方位侧向电极之间，用以连接所述基体和所述方位侧向电极在一起，且所述定位孔的孔壁、所述方位侧向电极和所述玻璃绝缘层之间形成有开口朝上的凹槽；和耐磨绝缘层，设置于所述凹槽内。

可选地，所述耐磨绝缘层采用耐磨绝缘胶以真空灌注的方式填充于所述凹槽内。

可选地，所述定位孔包括：开口朝上的上盲孔段，所述方位侧向电极设置于所述上盲孔段内；和开口朝下的下盲孔段，所述上盲孔段和所述下盲孔段的共有底壁上设置有连通孔，所述方位侧向电极的接线端子穿过所述连通孔而伸入所述下盲孔段内。

可选地，所述基体上还设置有用于穿装螺钉的通孔。

可选地，所述基体上还设置有用于安装顶丝的螺孔。

可选地，所述基体的下端设置有凸出部，所述凸出部的侧壁上设置有用于安装密封圈的密封槽。

可选地，所述基体为耐磨、耐腐蚀的金属件。

本文提供的钻铤，包括上述任一实施例所述的随钻方位侧向电阻率测量探头。

与现有技术相比，本发明提供的随钻方位侧向电阻率测量探头，绝缘层的外侧设置有基体，基体对绝缘层进行保护，随钻方位侧向电阻率测量探头长时间工作在随钻振动与冲击环境下、并且与井壁发生摩擦，不会使绝缘层产生裂纹，可有效确保随钻方位侧向电阻率测量探头密封性能和绝缘性能，避免对成像测量结果造成影响。

本文的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本文而了解。本文的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本文技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本文的技术方案，并不构成对本文技术方案的限制。

图1为本发明一个实施例所述的随钻方位侧向电阻率测量探头主视结构示意图；

图2为图1所述的随钻方位侧向电阻率测量探头的A-A剖视结构示意图。

其中，图1和图2中附图标记与部件名称之间的对应关系如下：