[发明专利]一种反射式光谱探测系统在审

专利信息
申请号: 201810477196.1 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108572145A 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: 苏涛;刘一阳;刘洪涛;侯惠奇 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪;宋丽荣
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 待测样品 探针 光纤 反射 光谱探测系统 反射式 探测器 光束透过 在线分析 浸入 出射光束 高温腐蚀 光纤连接 同一光路 监测 流体 光源 入射 容纳
【权利要求书】:

1.一种反射式光谱探测系统,其特征在于,该反射式光谱探测系统包括:

用于容纳流体的待测样品的容器;

至少部分浸入待测样品中的探针,该探针具有彼此间隔开的第一底和第二底,待测样品流入第一底和第二底之间;

用于连接光源与探针的光纤;以及

与该光纤连接的探测器;

其中,来自于光纤的光束透过第一底和待测样品后在第二底上被反射,该被反射的光通过光纤被探测器接收。

2.根据权利要求1所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,该反射式光谱探测系统还包括与探针连接的准直器,光纤为Y型光纤并具有第一端、第二端和第三端,光源与光纤的第一端连接,准直器与光纤的第二端连接,探测器与光纤的第三端连接。

3.根据权利要求1所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,第一底和第二底之间的距离为探针的光程的二分之一。

4.根据权利要求1所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,探针为一体化的石英探针并包括侧壁,彼此平行间隔开的第一底和第二底位于侧壁的不同高度上。

5.根据权利要求4所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,侧壁具有至少一个通孔,待测样品通过该通孔流入第一底和第二底之间。

6.根据权利要求4所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,第一底的上方的侧壁的内表面具有内螺纹。

7.根据权利要求1所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,探针为分体的辅以透光材料的金属探针并包括外壳、紧固件和透光窗片,其中,透光窗片通过紧固件被固定在外壳的内部。

8.根据权利要求7所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,透光窗片具有第一底,紧固件由第一圆筒和第二圆筒组成,外壳具有侧壁和垂直于该侧壁的第二底,其中,侧壁的内表面具有内螺纹,第一圆筒和第二圆筒的外表面上具有匹配的外螺纹,第一底被夹置于第一圆筒和第二圆筒之间,侧壁上具有至少一个通孔,第二圆筒上具有至少一个开口,待测样品依次通过该通孔和开口流入第一底和第二底之间。

9.根据权利要求8所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,透光窗片还包括第一垫圈和第二垫圈,其位于第一底的两侧并分别接触第一圆筒和第二圆筒。

10.根据权利要求1所述的反射式光谱探测系统,其特征在于,第二底包括反射膜或反射镜。

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