[发明专利]一种大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法有效

专利信息
申请号: 201810477732.8 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108763696B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 段耀强;李鑫;罗毅飞;刘宾礼;黄永乐;肖飞 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军工程大学
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06F119/02;G06F119/04
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军
地址: 430033 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 大功率 双极型 半导体器件 宽基区集总 电荷 建模 方法
【权利要求书】:

1.一种大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:将宽基区分成宽度相等的n个区域,采用n个集总电荷来分别表示n个区域内的电荷分布,n≥3,根据区域的电荷分布以及电荷运动机理定义漂移电流和扩散电流,通过电流密度方程确定相邻区域之间的空穴电流和电子电流,根据电流连续性方程确定每个区域电荷引起的复合电流,以空穴电流、电子电流和复合电流为基础建立宽基区集总电荷模型;

所述空穴电流公式为:其中,ipi(i+1)为从i区域到i+1区域的空穴电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,up为空穴迁移率,pi(i+1)为i区域和i+1区域的边界处的空穴浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,Tpi(i+1)为空穴从i区域到i+1区域的渡越时间,i取值为3、4、5……;

所述电子电流公式为:其中,ini(i+1)为从i区域到i+1区域的电子电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,un为电子迁移率,ni(i+1)为i区域和i+1区域边界处电子浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,Tni(i+1)为电子从i区域到i+1区域的渡越时间,i取值为3、4、5……;

所述复合电流公式为:其中,Qi(t)为t时刻时空穴在i区域内的电荷量,τpi为i区域空穴载流子寿命。

2.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:每个区域的集总电荷通过以下公式确定:其中,Qi为i区域的集总电荷,qp(i-1)=qAdpi-1/n,qpi=qAdpi/n,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,d为宽基区宽度,pi-1为i-1点处的空穴浓度,pi为i点处的空穴浓度,i取值为3、4、5……。

3.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述漂移电流公式为:idrift=qAμppi(i+1)E

其中,idrift为漂移电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,up为空穴迁移率,pi(i+1)为i区域和i+1区域的边界处的空穴浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,i取值为3、4、5……。

4.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述扩散电流公式为:

其中,idiff为扩散电流,q为单位电荷量,D为扩散系数,A为半导体器件有效面积,d为宽基区宽度,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,i取值为3、4、5……。

5.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述空穴载流子寿命τpi

其中,τn0、τp0为重掺杂P型、N型Si中少数载流子寿命,qp0、qn0为热平衡条件下空穴、电子电荷量,qpi为i区域注入的空穴电荷量,qnt表示复合中心能级上的电子电荷量,ET和Ei分别为复合能级和本征费米能级;K为玻尔兹曼常数、T为热力学温度。

6.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述n的取值为3或4或5。

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