[发明专利]一种大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法有效
申请号: | 201810477732.8 | 申请日: | 2018-05-18 |
公开(公告)号: | CN108763696B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 段耀强;李鑫;罗毅飞;刘宾礼;黄永乐;肖飞 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军工程大学 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367;G06F119/02;G06F119/04 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 430033 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大功率 双极型 半导体器件 宽基区集总 电荷 建模 方法 | ||
1.一种大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:将宽基区分成宽度相等的n个区域,采用n个集总电荷来分别表示n个区域内的电荷分布,n≥3,根据区域的电荷分布以及电荷运动机理定义漂移电流和扩散电流,通过电流密度方程确定相邻区域之间的空穴电流和电子电流,根据电流连续性方程确定每个区域电荷引起的复合电流,以空穴电流、电子电流和复合电流为基础建立宽基区集总电荷模型;
所述空穴电流公式为:其中,ipi(i+1)为从i区域到i+1区域的空穴电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,up为空穴迁移率,pi(i+1)为i区域和i+1区域的边界处的空穴浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,Tpi(i+1)为空穴从i区域到i+1区域的渡越时间,i取值为3、4、5……;
所述电子电流公式为:其中,ini(i+1)为从i区域到i+1区域的电子电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,un为电子迁移率,ni(i+1)为i区域和i+1区域边界处电子浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,Tni(i+1)为电子从i区域到i+1区域的渡越时间,i取值为3、4、5……;
所述复合电流公式为:其中,Qi(t)为t时刻时空穴在i区域内的电荷量,τpi为i区域空穴载流子寿命。
2.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:每个区域的集总电荷通过以下公式确定:其中,Qi为i区域的集总电荷,qp(i-1)=qAdpi-1/n,qpi=qAdpi/n,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,d为宽基区宽度,pi-1为i-1点处的空穴浓度,pi为i点处的空穴浓度,i取值为3、4、5……。
3.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述漂移电流公式为:idrift=qAμppi(i+1)E
其中,idrift为漂移电流,q为单位电荷量,A为半导体器件有效面积,up为空穴迁移率,pi(i+1)为i区域和i+1区域的边界处的空穴浓度,E为i区域和i+1区域边界处电场,i取值为3、4、5……。
4.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述扩散电流公式为:
其中,idiff为扩散电流,q为单位电荷量,D为扩散系数,A为半导体器件有效面积,d为宽基区宽度,Qi、Qi+1分别为i区域和i+1区域的集总电荷,i取值为3、4、5……。
5.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述空穴载流子寿命τpi为
其中,τn0、τp0为重掺杂P型、N型Si中少数载流子寿命,qp0、qn0为热平衡条件下空穴、电子电荷量,qpi为i区域注入的空穴电荷量,qnt表示复合中心能级上的电子电荷量,ET和Ei分别为复合能级和本征费米能级;K为玻尔兹曼常数、T为热力学温度。
6.根据权利要求1所述的大功率双极型半导体器件宽基区集总电荷建模方法,其特征在于:所述n的取值为3或4或5。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军海军工程大学,未经中国人民解放军海军工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810477732.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。