[发明专利]新型位移传感器及其测量方法在审
申请号: | 201810481651.5 | 申请日: | 2018-05-18 |
公开(公告)号: | CN108444397A | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 张白 | 申请(专利权)人: | 北方民族大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人: | 林辉轮;张玲 |
地址: | 750021 宁夏回族*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光束 反射镜 分光镜 反射 入射 新型位移传感器 反光镜 反射面 三角波 光电探测器 位移传感器 分光镜组 测量 测量过程 夹角设置 同一路径 透射 | ||
1.一种新型位移传感器,其特征在于,包括:
三角波反射镜,包括第一反射面和第二反射面;
激光束一,入射至三角波反射镜的第一反射面;
反射镜一,用于接收激光束一被三角波反射镜的第一反射面反射的激光束,且使该激光束在激光束一入射至同一个第一反射面的测量过程中,沿同一路径反射至三角波反射镜的第二反射面;
分光镜组一,包括分光镜一和反光镜二,且分光镜一和反光镜二呈一定夹角设置,且使得三角波反射镜的第二反射面反射的激光束入射至分光镜一,一部分激光束先后经分光镜一和反光镜二反射后入射至其中一个光电探测器一,另一部分激光束经分光镜一透射后入射至另一个光电探测器一;
两个所述光电探测器一,用于接收经分光镜组一透射或反射的激光束一,并测量其入射位置;
处理系统,用于根据光电探测器一接收到的激光束一的入射位置变化量计算出被测物体的位移变化值。
2.根据权利要求1所述的新型位移传感器,其特征在于,反射镜一平行于第一反射面,同时平行于第二反射面,激光束一与第一反射面的锐角夹角等于两倍第一反射面与水平面的夹角。
3.根据权利要求2所述的新型位移传感器,其特征在于,所述三角波反射镜的第一反射面和第二反射面分别与水平面的夹角为150度,激光束一入射至第一反射面的入射角为30度。
4.根据权利要求1所述的新型位移传感器,其特征在于,两个光电探测器一和分光镜组一之间的设置位置满足关系:激光束一经分光镜组一后分别入射至两个光电探测器一的入射角相同。
5.根据权利要求4所述的新型位移传感器,其特征在于,分光镜一和反光镜二呈90度夹角设置,且两个光电探测器一平行设置。
6.根据权利要求1-5任一所述的新型位移传感器,其特征在于,还包括:
激光束二,入射至三角波反射镜的第一反射面,且激光束一与激光束二在第一反射面的初始入射点位置不同;
反射镜二,用于接收激光束二被三角波反射镜的第一反射面反射的激光束,且使该激光束在激光束二入射至同一个第一反射面的测量过程中,沿同一路径反射至三角波反射镜的第二反射面;
分光镜组二,包括分光镜三和反光镜四,且分光镜三和反光镜四呈一定夹角设置,且使得三角波反射镜的第二反射面反射的激光束入射至分光镜三,一部分激光束先后经分光镜三和反光镜四反射后入射至其中一个光电探测器二,另一部分激光束经分光镜三透射后入射至另一个光电探测器二;
两个所述光电探测器二,用于接收经分光镜组二透射或反射的激光束二,并测量其入射位置;
所述处理系统具体用于,根据所述光电探测器一上所接收到的激光束一的入射位置变化量,或所述光电探测器二上所接收到的激光束二的入射位置变化量,处理得到被测物体的位移变化值。
7.根据权利要求6所述的新型位移传感器,其特征在于,激光束一和激光束二均入射至三角波反射镜的同一个第一反射面,或者,激光束一和激光束二分别入射至三角波反射镜的两个不同的第一反射面。
8.根据权利要求6所述的新型位移传感器,其特征在于,还包括壳体,激光束一和激光束二分别由激光源一和激光源二发射得到,激光源一、激光源二、反射镜一、反射镜二、分光镜组一、分光镜组二、两个光电探测器一和两个光电探测器二均固定设置于壳体内,组成读数头;或者,
还包括两个壳体,激光束一和激光束二分别由激光源一和激光源二发射得到,激光源一、反射镜一、分光镜组一和两个光电探测器一均固定设置于一个壳体内,组成一个读数头,激光源二、反射镜二、分光镜组二和两个光电探测器二均固定设置于另一个壳体内,组成另一个读数头。
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