[发明专利]绝缘子表面RTV涂层老化状态评估方法、装置及系统

权利要求书

1.一种绝缘子表面RTV涂层老化状态评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列；

获取得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列时，所述待测绝缘子所处的工作环境信息，其中，所述工作环境信息包括海拔高度信息、污秽等级信息、工作年限信息以及距海距离信息；

根据所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列，获取所述待测绝缘子表面RTV涂层的温度时间对数图；

根据所述待测绝缘子所处的工作环境信息，在预设的绝缘子表面RTV涂层老化状态标准数据库中，筛选出符合所述工作环境信息的绝缘子表面RTV涂层老化年限-温度时间对数图对应数据组；

根据所述待测绝缘子表面RTV涂层的温度时间对数图，以及所述绝缘子表面RTV涂层老化年限-温度时间对数图对应数据组，确定所述待测绝缘子表面RTV涂层的老化状态信息。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列，包括：

对所述待测绝缘子表面RTV涂层施加光源激励，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列；

对所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列进行预处理，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列进行预处理，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列，包括：

对所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列进行高斯滤波，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的次级红外热图序列；

对所述待测绝缘子表面RTV涂层的次级红外热图序列通过经验模式分解方法进行提高信噪比处理，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的绝缘子表面RTV涂层老化状态标准数据库的构建方式如下：

选取老化年限已知的表面涂覆有RTV涂层的不同样本绝缘子；其中，所述样本绝缘子所处的工作环境不同，选取工作年限分别为1年、2年、3年、8年、10年，工作海拔高度分别为0米、1000米、2000米、3000米，污秽等级分别为0级、Ⅰ级、Ⅱ级、Ⅲ级，距海距离分别为10km，30km，50km；对上述工作环境不同的样本绝缘子进行红外热波检测，利用检测得到的温度时间对数图与所述样本绝缘子表面RTV涂层的老化年限相匹配，得到绝缘子表面RTV涂层老化状态标准数据库。

5.一种绝缘子表面RTV涂层老化状态评估装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取单元，用于获取待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列；

第二获取单元，用于获取得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列时，所述待测绝缘子所处的工作环境信息，其中，所述工作环境信息包括海拔高度信息、污秽等级信息、工作年限信息以及距海距离信息；

第三获取单元，用于根据所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列，获取所述待测绝缘子表面RTV涂层的温度时间对数图；

筛选单元，用于根据所述待测绝缘子所处的工作环境信息，在预设的绝缘子表面RTV涂层老化状态标准数据库中，筛选出符合所述工作环境信息的绝缘子表面RTV涂层老化年限-温度时间对数图对应数据组；

确定单元，用于根据所述待测绝缘子表面RTV涂层的温度时间对数图，以及所述绝缘子表面RTV涂层老化年限-温度时间对数图对应数据组，确定所述待测绝缘子表面RTV涂层的老化状态信息。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第一获取单元，包括：

第一获取子单元，用于对所述待测绝缘子表面RTV涂层施加光源激励，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列；

预处理单元，用于对所述待测绝缘子表面RTV涂层的初始红外热图序列进行预处理，得到所述待测绝缘子表面RTV涂层的红外热图序列。