[发明专利]电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种电路板检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取N个初始区域；所述N个初始区域覆盖了电路板的全部元件特征；所述N个初始区域通过对所述电路板划分得到；

根据所述N个初始区域及其覆盖的元件特征，确定所述电路板的M个目标区域；所述M个目标区域覆盖了所述N个初始区域覆盖的全部元件特征；其中，N＞M＞0；

获取所述电路板的M个区域图像；所述M个区域图像与所述M个目标区域一一对应；所述M个区域图像包含有所述电路板的全部元件特征；

检测所述M个区域图像中的元件特征；

所述根据所述N个初始区域及其覆盖的元件特征，确定M个目标区域，包括：

选取至少一个初始区域作为待移动区域；

根据所述待移动区域覆盖的元件特征，移动所述待移动区域，得到所述目标区域；

当所述目标区域覆盖的元件特征包含有另外一个初始区域覆盖的全部元件特征，删除所述另外一个初始区域，并返回至所述选取至少一个初始区域作为待移动区域的步骤，直至得到所述M个目标区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始区域具有区域标识，所述元件特征具有关联的区域标识，所述根据所述待移动区域覆盖的元件特征，移动所述待移动区域，得到所述目标区域，包括：

获取所述待移动区域覆盖的、且与所述待移动区域的区域标识关联的元件特征，得到第一候选特征；

在所述第一候选特征中选取定位特征；

将所述待移动区域向所述定位特征移动，得到所述目标区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据所述待移动区域覆盖的元件特征，移动所述待移动区域，得到所述目标区域之后，所述方法还包括：

将所述待移动区域的区域标识，作为所述目标区域的区域标识；

确定所述目标区域覆盖的元件特征，作为第二候选特征；

将关联的区域标识与所述目标区域的区域标识不相同的第二候选特征，作为重关联特征；

将所述重关联特征关联的区域标识，修改为所述目标区域的区域标识。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述根据所述待移动区域覆盖的元件特征，移动所述待移动区域，得到所述目标区域之后，还包括：

获取所述另外一个初始区域的区域标识；

当所述另外一个初始区域的区域标识不存在关联的元件特征，判定所述目标区域覆盖的元件特征包含有另外一个初始区域覆盖的全部元件特征。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述第一候选特征中选取定位特征，包括：

获取所述待移动区域的区域边缘；

选取与所述待移动区域的区域边缘的距离最小的第一候选特征，得到所述定位特征。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述待移动区域向所述定位特征移动，得到所述目标区域，包括：

获取所述定位特征的特征边缘；

计算所述待移动区域的区域边缘与所述定位特征的特征边缘的距离，得到边缘距离；

将所述待移动区域向所述定位特征移动所述边缘距离，得到所述目标区域。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

将所述电路板划分为多个定位格，并获取所述定位格的特征；

当所述定位格的特征符合设定的特征，将所述定位格的特征作为所述元件特征。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括：

获取所述初始区域覆盖的元件特征，以及，设定所述初始区域的区域标识；

建立所述初始区域覆盖的元件特征与所述初始区域的区域标识之间的关联关系。