[发明专利]单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备

权利要求书

1.一种单片机参数处理方法，其特征在于，所述方法包括：

当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；

当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；

当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。

2.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：

当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时，将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对；

当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时，对所述参数信息进行读取；

当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。

3.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：

当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时，读取使用所述单片机的默认参数信息，并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。

4.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内的步骤包括：

将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验；

当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时，将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验；

当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功；

当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。

5.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内的步骤包括：

当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败，且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时，读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息，且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内；

当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功，且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。

6.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述预设校验规则为CRC校验规则。

7.一种单片机参数处理系统，其特征在于，所述系统包括：

保存模块，用于当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；

校验模块，用于当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；

第一读取模块，用于当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。