[发明专利]测定多孔射气介质中氡扩散系数和可运移氡产生率的方法有效
申请号: | 201810487727.5 | 申请日: | 2018-05-21 |
公开(公告)号: | CN108931465B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 叶勇军;吴文浩;李实;丁德馨;谢超;冯胜洋 | 申请(专利权)人: | 南华大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08;G01N13/00 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 张珉瑞;蒋尊龙 |
地址: | 421001 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测定 多孔 介质 扩散系数 可运移氡 产生 方法 | ||
1.一种测定多孔射气介质中氡扩散系数的方法,其特征在于,该方法使用以下装置进行测量:该装置包括测试体、第一集氡空间、第二集氡空间、第一测氡系统和第二测氡系统;所述测试体为直柱体,测试体的底面为四分之一圆环,测试体的侧面由两个相对的平面和两个相对的弧面组成,其中靠近圆心的弧面为内弧面,远离圆心的弧面为外弧面;在内弧面的内侧设有第一集氡空间,第一集氡空间用于收集从内弧面析出的氡;在外弧面的外侧设有第二集氡空间,第二集氡空间用于收集从外弧面析出的氡;第一测氡系统与第一集氡空间连通并形成闭合回路,第二测氡系统与第二集氡空间连通并形成闭合回路;
该方法根据以下公式计算多孔射气介质中氡扩散系数D:
其中:
I0、I1分别表示第一类0阶、1阶虚宗量Bessel函数;
K0、K1分别表示第二类0阶、1阶虚宗量Bessel函数;
r1表示圆环中内圆弧的半径;r2表示圆环中外圆弧的半径;
J1、J2分别表示内弧面、外弧面的氡析出率;
用第一测氡系统在两个时刻分别测试第一集氡空间的氡浓度C11和C12,根据以下公式计算内弧面的氡析出率J1,t1表示测试第一集氡空间的两个时刻的时间间隔,S1表示测试体内弧面的表面积,V1表示第一集氡空间所在闭合回路的总体积;
用第二测氡系统在两个时刻分别测试第二集氡空间的氡浓度C21和C22,根据以下公式计算氡析出率J2,t2表示测试第二集氡空间的两个时刻的时间间隔,S2表示测试体外弧面的表面积;V2表示第二集氡空间所在闭合回路的总体积;λ表示氡的衰变常数,λ=2.1×10-6s-1。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,t1=10-30min;t2=10-30min。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试体是由铀尾渣与水泥混合,再加水混匀制成。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述铀尾渣的粒径小于1mm。
5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,铀尾渣与水泥的质量比为3-7:1。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,r1=80-150mm;r2=300-500mm。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,利用第一测氡系统和第二测氡系统同时对集氡空间内的氡浓度进行测试。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一集氡空间和第二集氡空间为均直柱体,第一集氡空间的底面为圆心角为90度的扇形;第二集氡空间的底面为四分之一圆环。
9.一种测定多孔射气介质中可运移氡产生率的方法,其特征在于,先按权利要求1-8任一项所述的方法计算多孔射气介质中氡扩散系数D;再根据以下公式计算可运移氡产生率α,
10.一种测定多孔射气介质中可运移氡产生率的方法,其特征在于,先按权利要求1-8任一项所述方法计算多孔射气介质中氡扩散系数D;再根据以下公式计算可运移氡产生率α,
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