[发明专利]一种对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法及系统

权利要求书

1.一种对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法，其特征在于，包括：

消除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡；

对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断；

测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰；

对时域的太赫兹相位进行处理，计算出违禁物品的折射率；

结合太赫兹相位特性、幅值特性、频域特性，进行综合判定违禁物品特性，进而对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱。

2.如权利要求1所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法，其特征在于，所述消除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡，包括：

采用滤波算法的方式，除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡。

3.如权利要求1所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法，其特征在于，所述对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断，包括：

在太赫兹频域中对接收不同频率分量幅值做相对处理，计算出其斜率可以直接获取快慢的程度，即得出违禁物品对太赫兹的吸收特性，进而对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断。

4.如权利要求1所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法，其特征在于，所述测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰，包括：

根据太赫兹频谱范围内不同违禁物品的特征吸收峰，测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰。

5.如权利要求1所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的方法，其特征在于，所述对时域的太赫兹相位进行处理，计算出违禁物品的折射率，包括：

对时域的太赫兹相位进行处理，通过测量违禁物品对太赫兹脉冲的相位延迟特性，计算出太赫兹的折射率。

6.一种对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的系统，其特征在于，包括：所述消除单元、判断单元、确定单元、计算单元、建立单元；

所述消除单元，用于消除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡；

所述判断单元，用于对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断；

所述确定单元，用于测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰；

所述计算单元，用于对时域的太赫兹相位进行处理，计算出违禁物品的折射率；

所述建立单元，用于结合太赫兹相位特性、幅值特性、频域特性，进行综合判定违禁物品特性，进而对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱。

7.如权利要求6所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的系统，其特征在于，所述消除单元，用于消除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡，包括：

所述消除单元，用于采用滤波算法的方式，除太赫兹光谱曲线上的因环境因素的干扰引起的振荡。

8.如权利要求6所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的系统，其特征在于，所述判断单元，用于对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断，包括：

所述判断单元，用于在太赫兹频域中对接收不同频率分量幅值做相对处理，计算出其斜率可以直接获取快慢的程度，即得出违禁物品对太赫兹的吸收特性，进而对太赫兹频谱中的脉冲强度进行判断。

9.如权利要求6所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的系统，其特征在于，所述确定单元，用于测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰，包括：

所述确定单元，用于根据太赫兹频谱范围内不同违禁物品的特征吸收峰，测量违禁物品对太赫兹的吸收，确定违禁物品的特征吸收峰。

10.如权利要求6所述的对违禁物品建立太赫兹物质指纹谱的系统，其特征在于，所述计算单元，用于对时域的太赫兹相位进行处理，计算出违禁物品的折射率，包括：

所述计算单元，用于对时域的太赫兹相位进行处理，通过测量违禁物品对太赫兹脉冲的相位延迟特性，计算出太赫兹的折射率。