[发明专利]电源门控控制系统及其控制方法

权利要求书

1.一种电源门控控制系统，该电源门控控制系统包括：

半导体设备，该半导体设备包括通过电源门控晶体管与电源端子联接的逻辑电路块；以及

测试仪，该测试仪被配置为控制所述半导体设备，使得在改变所述电源门控晶体管的体偏压值的同时使用测试数据来执行对所述逻辑电路块的测试，并且在所述半导体设备中更新满足预定测试条件的体偏压值。

2.根据权利要求1所述的电源门控控制系统，其中，所述逻辑电路块包括与所述电源门控晶体管共同联接的多个逻辑电路。

3.根据权利要求2所述的电源门控控制系统，其中，所述半导体设备还包括：

多个扫描链，所述多个扫描链被配置为经由所述多个逻辑电路针对所述测试数据执行扫描测试；以及

电源门控控制器，该电源门控控制器被配置为在测试模式下使用预先存储的第一码组来改变体偏压，并且在正常模式下使用由所述测试仪更新的第二码组来设定所述体偏压。

4.根据权利要求3所述的电源门控控制系统，其中，所述电源门控控制器包括：

第一存储部，该第一存储部被配置为存储所述第一码组；

第二存储部，该第二存储部被配置为存储所述第二码组；

电压生成器，该电压生成器被配置为将所述体偏压生成为取决于体偏压码的值；以及

控制电路，该控制电路被配置为通过确定所述测试模式和所述正常模式来将所述第一码组或所述第二码组作为所述体偏压码提供给所述电压生成器。

5.一种电源门控控制系统，该电源门控控制系统包括：

半导体设备，该半导体设备包括分别通过多个电源门控晶体管与电源端子联接的多个逻辑电路块以及分别联接在所述多个电源门控晶体管与所述多个逻辑电路块的联接节点之间的多个开关；以及

测试仪，该测试仪被配置为控制所述半导体设备，使得在执行所述多个开关的接通和关断组合改变和所述多个电源门控晶体管的体偏压改变中的至少一个的同时使用测试数据来执行对所述多个逻辑电路块的测试，并且在所述半导体设备中更新满足预定测试条件的第一体偏压值和第一接通/关断组合。

6.根据权利要求5所述的电源门控控制系统，其中，所述多个逻辑电路块中的每一个包括与所述多个电源门控晶体管中的每一个共同联接的多个逻辑电路。

7.根据权利要求6所述的电源门控控制系统，其中，所述半导体设备还包括：

多个扫描链，所述多个扫描链被配置为经由所述多个逻辑电路块针对所述测试数据执行扫描测试；以及

电源门控控制器，该电源门控控制器被配置为在测试模式下使用预先存储的第一码组来改变所述多个电源门控晶体管的体偏压并改变所述多个开关的接通/关断组合，并且在正常模式下使用由所述测试仪更新的第二码组来设定所述多个电源门控晶体管的体偏压并控制所述多个开关以符合所述第一接通/关断组合。

8.根据权利要求7所述的电源门控控制系统，其中，所述电源门控控制器包括：

第一存储部，该第一存储部被配置为存储所述第一码组；

第二存储部，该第二存储部被配置为存储所述第二码组；

电压生成器，该电压生成器被配置为将所述体偏压生成为取决于体偏压码的值；

分组解码器，该分组解码器被配置为根据分组码来生成用于控制所述多个开关的接通/关断的多个分组使能信号；以及

控制电路，该控制电路被配置为通过确定所述测试模式和所述正常模式来将所述第一码组和所述第二码组中的任一个的一部分作为所述体偏压码提供给所述电压生成器，并且将所述第一码组和所述第二码组中的任一个的其余部分作为所述分组码提供给所述分组解码器。