[发明专利]一种芯片的漏电流检测设备

说明书

本发明提供了一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，所述设备本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，本发明通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，以待后续工序对待测芯片进行分拣，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试设备技术领域，特别涉及一种芯片的漏电流 检测设备。

背景技术

理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但实际情况下， 它们之间为高阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电 流称为漏电流。在芯片流片之后，需要测试芯片的漏电流是否达标， 如果芯片的漏电流过大，比如应用到手机、笔记本电脑等需要电池供 电的电子设备上，芯片会严重的影响待机时间，影响产品的质量，因 此漏电流需要慎重考虑。

近年来，随着集成电路的发展，各种芯片引脚越来越密，引脚越 来越多，引脚间距也越来越小，给生产、维修、组装和测试带来不少 的困难。现有的漏电流测量方法，通常为人工采用测试治具和万用表， 逐个测试芯片引脚的漏电流，该方法测试效率十分低下，测试精度无 法得到保证，大大影响了生产和加工效率。

发明内容

(一)解决的技术问题

为了解决上述问题，本发明提供了一种芯片的漏电流检测设备， 通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流 测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理， 并判定良品或废品，以待后续工序对待测芯片进行分拣，自动化及智 能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测 试精度，提升了生产和加工效率。

(二)技术方案