[发明专利]测量设备及其控制方法

说明书

本发明公开了一种测量设备及其控制方法。该测量设备(10)包括被配置为显示测量轨迹的显示器(11)、被配置为基于至少一个目标测量参数分析由测量轨迹表示的测量数据的子集的分析单元(12)以及被配置为搜索所述至少一个目标测量参数后处理单元(13)。

技术领域

本发明涉及测量设备和用于控制测量设备的方法和程序，所述测量设备尤其包括显示器、分析单元和后处理单元。

背景技术

通常，随着采用电路的应用越来越多，越来越需要测量设备及其控制方法，以便以有效的方式检验所述电路的正确运作。

US 2014/0215382 A1公开了一种操作具有屏幕的第一数据处理系统以响应在该屏幕上执行的矢量手势的方法。该方法包括在矢量手势完成之前估计矢量手势的方向并呈现矢量手势的标识。所述估计和呈现的结果是，所公开的数据处理系统可能以不准确和低效率的方式操作，由于需要校正，这可能花费额外的时间。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量设备以及用于控制所述测量设备的方法和程序，以便以有效且省时的方式测试电路。

此目的通过权利要求1的用于控制测量设备的方法的特征、权利要求8的测量设备的特征和权利要求15的计算机程序的特征来解决。从属权利要求包含进一步的改进。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于控制测量设备的方法。该方法包括以下步骤：在测量设备的显示器上显示测量轨迹，基于至少一个目标测量参数分析由所述测量轨迹表示的测量数据的子集，以及搜索所述至少一个目标测量参数。有利地，测量可以以有效且省时的方式执行。

根据第一方面的第一优选实现形式，基于由至少一个用户输入设置的至少一个用户测量参数确定所述测量数据的子集。有利地，由于必要的信息被降低到最少，进一步提高了测量效率。

根据第一方面的另一优选实现形式，所述至少一个用户输入包括键盘输入、鼠标输入、触摸手势和语音控制命令中的至少一者。有利地，提供了适于相应使用情况的各种用户输入能力。

根据第一方面的另一优选实现形式，所述至少一个用户测量参数包括带宽、中心频率、采集时间、触发偏移、电平中的至少一者或其任意组合。有利地，提供了适于相应使用情况的各种用户测量参数。

根据第一方面的另一优选实现形式，该方法还包括在所述测量设备的所述显示器中自动设置所述至少一个目标测量参数的步骤。有利地，可以捕捉测量设置。

根据第一方面的另一优选实现形式，所述至少一个目标测量参数包括目标带宽、目标中心频率、目标采集时间、目标触发偏移、电平中的至少一者或其任意组合。有利地，能够特别针对适于相应使用情况的各种目标测量参数捕捉测量设置。

根据第一方面的另一优选实现形式，该方法还包括基于至少一个合理的分析结果设置所述至少一个目标测量参数的步骤，所述至少一个合理的分析结果尤其以同步、误差矢量幅度(优选地最小化的误差矢量幅度)、最大相关性、最大功率或其任意组合的形式。有利地，进一步提高了效率。

根据第一方面的另一优选实现形式，所述方法还包括从所述至少一个用户测量参数导出所述至少一个目标测量参数的步骤。有利地，以这种方式，能够进一步提高测量效率。

根据本发明的第二方面，提供了一种测量设备。该测量设备包括：显示器，该显示器被配置为显示测量轨迹；分析单元，该分析单元被配置为基于至少一个目标测量参数分析由所述测量轨迹表示的测量数据的子集；以及后处理(post processing,pp)单元，所述后处理单元被配置为搜索所述至少一个目标测量参数。有利地，测量可以以有效且省时的方式执行。

根据第二方面的第一优选实现形式，基于由至少一个用户输入设置的至少一个用户测量参数确定所述测量数据的子集。有利地，由于必要的信息被降低到最少，进一步提高了测量效率。