[发明专利]梯度线圈的匀场方法和装置有效
申请号: | 201810509890.7 | 申请日: | 2018-05-24 |
公开(公告)号: | CN108802644B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 陶红艳 | 申请(专利权)人: | 上海东软医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/385 | 分类号: | G01R33/385 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 200241 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 梯度 线圈 方法 装置 | ||
本发明公开了一种梯度线圈的匀场方法,包括:向梯度线圈输入直流信号;根据梯度线圈产生的磁场,确定匀场架在多个方向上的偏移量;根据偏移量调整预定的计算模型,根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数;根据设置参数在匀场条中设置匀场片,以及将匀场条插入梯度线圈;通过所场架测量匀场指标。根据本发明的实施例,通过确定匀场架在多个方向上的偏移量,并根偏移量调整了预定的计算模型,进而根据调整后的计算模型可以更加准确地计算每个匀场片的设置参数,使得后续设置的匀场片更加合理,从而测量的匀场指标更容易满足需要,以便减少测试次数,不紧可以节约时间,还可以减少液氦的挥发,节省费用。
技术领域
本发明涉及医疗设备技术领域,尤其涉及梯度线圈的匀场方法和梯度线圈的匀场装置。
背景技术
在核磁共振设备的应用中,由于磁体本身的差异以及地理位置的差异,都可能导致设备中梯度线圈产生的磁场不均匀。因此,需要对梯度线圈进行匀场处理。
目前的匀场方式包括主动匀场和被动匀场,其中,被动匀场是通过测量设备对梯度线圈内的磁场进行测量,然后根据预定的计算模型计算设置参数,进而按照得到的设置参数在梯度线圈中设置匀场片。
为了准确地得到设置参数,需要精确地设置测量设备在梯度线圈内侧的位置,然而由于测量结果存在一定的不确定性,需要多次测量,而每次测量过程需要调整梯度线圈的磁场,以及重新设置匀场片,耗时较长,而且每次测量过程都会导致核磁共振设备中的液氦挥发。
在相关技术中,设置测量设备在梯度线圈内侧的位置的精度较低,因此根据与预定的计算模型计算的结果精度角度,为了提高精度,需要增加测量次数,不仅耗时很长,而且导致液氦挥发量增大,费用提高。
发明内容
有鉴于此,本发明提出梯度线圈的匀场方法和梯度线圈的匀场装置,以解决上述技术问题。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案为:
根据本发明实施例的第一方面,提出了一种梯度线圈的匀场方法,包括:
向梯度线圈输入直流信号,其中,所述梯度线圈待被插入多个匀场条,在每个所述匀场条中设置有多个匀场片;
根据所述梯度线圈产生的磁场,确定匀场架在多个方向上的偏移量;
根据所述偏移量调整预定的计算模型,根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数;
根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片,以及将所述匀场条插入所述梯度线圈;
通过所述匀场架测量匀场指标。
可选地,所述根据所述梯度线圈产生的磁场,确定匀场架在多个方向上的偏移量包括:
获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号;
确定所述多个位置中至少两个位置的磁场信号的第一关联关系;
查询预存的在所述匀场架偏移的情况下,所述至少两个位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系;
确定所述第二关联关系对应的匀场架在多个方向上的偏移量。
可选地,所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和/或在第二方向上的偏移量,以及在第三方向上的偏移量;
其中,所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向,所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向,且所述第二方向垂直于所述第三方向。
可选地,所述根据所述偏移量调整预定的计算模型,根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数包括:
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