[发明专利]一种非接触智能卡自适应稳定性测试的自动化装置及测试方法在审
申请号: | 201810516360.5 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108931701A | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 张龙 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 智能卡 非接触智能卡 稳定性测试 非接触读卡器 场强 自适应 卡片 内部时钟频率 工作稳定性 智能卡测试 自动化设备 自动化装置 测试脚本 模拟人手 时钟频率 通信失败 读卡器 上位机 摆动 验证 测试 场景 配置 考核 应用 | ||
本发明涉及智能卡测试验证领域,在实际应用中非接触智能卡有自适应时钟频率配置,即根据非接触读卡器场强的大小来调节内部时钟频率,场强的变化和智能卡时钟的变化容易引起卡片运行不稳定从而造成卡片与读卡器之间出现通信失败的现象。本发明提出了一种非接触智能卡稳定性测试的自动化设备,该设备用来模拟人手在非接触读卡器工作场内不规律摆动导致智能卡工作不稳定的场景,同时运行上位机测试脚本,从而实现自动对非接触智能卡进行稳定性测试的方法,以达到考核非接智能卡在非稳定工作环境下的工作稳定性。
技术领域
本发明涉及测试验证领域,提供了一种自适应条件下非接触智能卡稳定性测试装置及测试方法。
背景技术
随着非接触智能卡在生活中应用的普及,交通、金融等领域需求不断增大,对非接触智能卡的稳定性要求越来越高。智能卡在自适应配置条件下,随着场强的增大内部处理时钟升高,随着场强的减小内部处理时钟降低。场强的变化和内部时钟的切换有可能造成非接触智能卡与非接触读卡器之间信号传输不稳定。因此,对非接触智能卡在自适应配置条件下进行稳定性测试成为了必然。
现有的自适应非接触智能卡测试仅依靠人工甩卡的方式进行测试。在确定非接触读卡器和非接触智能卡之间的工作距离后,工作人员在确定的工作距离空间内进行甩卡测试,甩卡频率不固定,观察智能卡与读卡器之间通信是否稳定。人工测试耗时耗力,操作起来麻烦。自动化测试装置可以解放人工,提高效率。
发明内容
针对人工测试自适应非接触智能卡稳定性效率低、成本高的问题,本发明提出了一种自适应非接触智能卡稳定性测试自动化装置,该装置可以代替人工的甩卡测试。确定工作距离后,卡片可以在工作场内上下摆动。根据测试结果可以判断卡片工作是否稳定,避免了因场强变化而造成非接触智能卡工作不稳定的产品质量风险。
本发明提出了一种自适应非接触智能卡稳定性测试的自动化测试装置,包括:控制模块、电机传动模块、机械架摆动装置。
控制模块与电机传动模块连接,控制模块输出调节电机转速信号,用于控制电机的转速,使电机传动模块进行不规律的快慢转动。
电机传动模块与机械架摆动装置连接,用于带动机械架的升降臂进行上下摆动。电机轴连接机械架上的偏心轮,电机转动后,带动偏心轮转动。
机械架摆动装置包括:升降臂(205)、偏心轮(203)、拉簧(204)、夹卡板(206)。拉簧(204)和夹卡板(206)固定在升降臂(205)上,夹卡板(206)夹住被测的非接卡片,升降臂(205)和夹卡板(206)在偏心轮(203)的带动下上下摆动,使被测非接智能卡在读卡器测试场内上下不规律的摆动。
附图说明
图1表示本发明测试装置结构示意图。
图2表示本发明的特定实施例结构图。
图3表示本发明的一种实施例测试流程图
具体实施方式
在以下的详细描述中,参考通过图示的方式描述的其中本发明实施的特定实施例。该实施例被足够详细的描述,以使得本领域的技术人员能够实施本发明。但以下的详细描述不应该理解为限制意义。
图1为本发明的测试装置结构示意图,包括:控制模块(102)、电机传动模块(103)和机械架摆动装置(104)。
图2为本发明的一个实施例,其中,非接触智能卡自适应稳定性测试的自动化设备,包括控制模块(102)、电机传动模块(103)、机械架摆动装置(104)。其中机械架摆动装置(104)由偏心轮(203)、拉簧(204)、升降臂(205)和夹卡板(206)组成。控制模块输出电源信号和控制信号接口与电机传动模块连接,电机传动模块与机械摆动装置的偏心轮连接,电机转动带动偏心轮的转动,偏心轮的转动可以使升降臂上下摆动。固定在升降臂上的夹卡板夹住非接触智能卡,使智能卡在读卡器工作场内上下摆动。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中电华大电子设计有限责任公司,未经北京中电华大电子设计有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810516360.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。