[发明专利]激光探测设备及方法

权利要求书

1.一种激光探测设备，其特征在于，所述设备包括：发射装置、接收装置、电子快门、同步控制器和处理器；

所述发射装置，用于发射扫描待测对象表面的脉冲激光；

所述同步控制器，用于控制所述脉冲激光与所述电子快门同步；

所述电子快门，用于控制所述接收装置的曝光时间；

所述接收装置，用于接收所述脉冲激光经所述待测对象表面的反射光并成像；

所述处理器，用于根据所述成像，获得所述待测对象的信息。

2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述发射装置包括：光源和扫描装置；

所述光源，用于发射脉冲激光；

所述扫描装置，在被驱动时运动，将所述脉冲激光反射或透射至待测对象表面的不同位置。

3.如权利要求2所述的设备，其特征在于，所述扫描装置，将所述脉冲激光沿一维方向反射或透射至所述待测对象表面的不同位置；或者，将所述脉冲激光沿二维方向反射或透射至所述待测对象表面的不同位置。

4.如权利要求2所述的设备，其特征在于，所述扫描装置在被驱动时，按照设定参数，进行非等角度间隔的非匀速转动。

5.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述发射装置还包括：生成子装置、编码子装置和发射子装置；

所述生成子装置，用于生成扫描待测对象表面的脉冲激光；

所述编码子装置，用于通过所述脉冲激光对同一目标多次测量生成编码发射信号；所述编码发射信号携带所述设备的识别信息；

所述发射子装置，用于发射所述编码发射信号。

6.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述处理器控制所述发射装置在每个恒定的脉冲周期内发射不同脉冲宽度的脉冲激光。

7.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述接收装置包括：窄带滤波子装置和成像子装置；

所述窄带滤波子装置，具有根据所述脉冲激光的波长设置的滤波参数，用于对所述反射光进行滤波；

所述成像子装置，用于接收滤波后的所述反射光并成像。

8.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述接收装置包括：扫描子装置和成像子装置；

所述扫描子装置，在被驱动时运动，将所述反射光反射或透射至所述成像子装置；

所述成像子装置，用于接收经所述扫描子装置的所述反射光并成像。

9.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述处理器按照设定条件，调整所述发射装置的功率。

10.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：环境光传感器；

所述处理器，还用于根据所述环境光传感器的检测结果，调整所述发射装置的功率。

11.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述处理器，还用于根据所述接收装置接收的所述反射光的强度，调整所述发射装置的功率。

12.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：温度传感器和温度控制装置；

所述温度传感器，用于获取所述发射装置和所述接收装置的温度；

所述温度控制装置，用于在所述温度传感器获取的温度超过温度阈值时，进行温度控制。

13.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述待测对象的信息为所述待测对象的位置；

所述处理器针对所述待测对象表面的特征点，获得由所述接收装置形成的图像坐标：

其中，

14.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述待测对象的信息为所述待测对象的材料；

所述处理器根据所述反射光的强度，确定所述待测对象的材料。