[发明专利]一种RTU启动疲劳试验装置与方法

说明书

本发明公开一种RTU启动疲劳试验装置与方法。所述装置包括：被测RTU，控制被测RTU电源通断的电子开关，控制器；被测RTU的一位数字量输出端口DO与控制器的一位数字量输入端口DI相连，控制器的一位数字量输出端口DO与电子开关的控制端相连。本发明首次提出了RTU启动疲劳试验方法，并设计了试验装置，利用所述装置能够自动完成RTU启动疲劳试验，与传统的疲劳试验相比，大大缩短了试验时间，便于快速了解产品的启动性能。获得的试验数据能够为RTU生命周期的研究提供有力支持。

技术领域

本发明属于RTU(Remote Terminal Unit，远程终端单元)技术领域，具体涉及一种RTU启动疲劳试验装置与方法。

背景技术

RTU主要用于对现场信号、工业设备的监测和控制。RTU是构成企业综合自动化系统的核心装置，通常由信号输入/输出模块、微处理器、有线/无线通信模块和电源等组成。RTU可很好地实现企业中央监控与调度系统对生产现场一次仪表的遥测、遥控、遥信和遥调等功能。

RTU启动时产生很大的启动电流，有时能达到正常工作电流的5～10倍以上。因此，RTU启动对RTU的寿命或生命周期影响很大，每启动一次其寿命都有一定程度的减损。实践表明，影响RTU正常使用寿命最主要的因素是RTU的启动次数。对于一个正常使用寿命为10年左右的RTU，按每天启动一次计算，一个RTU可以连续成功启动3650次左右。当RTU成功启动次数超过一定数值后，便处于半失效状态，经常出现启动失败的现象；启动次数再增加一定数量后，RTU将处于全失效或损坏状态，完全不能正常启动。因此，可以用RTU最大连续成功启动次数，以及成功启动次数占启动次数的比例即启动成功率等表示RTU的寿命长短或性能优劣。

电子装置的寿命一般通过疲劳试验获得。本发明设计一种用于RTU疲劳试验的装置，与通常的疲劳试验不同的是，本发明通过反复启动被测RTU检测其启动性能的优劣，因此又称这种疲劳试验为RTU启动疲劳试验。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提出一种RTU启动疲劳试验装置与方法，利用所述装置通过对被测RTU重复进行启动试验，检测RTU启动性能的优劣。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

本发明提供一种RTU启动疲劳试验装置，包括：被测RTU，控制被测RTU电源通断的电子开关，控制器。被测RTU的一位数字量输出端口DO与控制器的一位数字量输入端口DI相连，控制器的一位数字量输出端口DO与电子开关的控制端相连。

进一步地，所述装置还包括通过网络与控制器通信的上位机。

进一步地，所述控制器为一RTU。

本发明还提供一种利用所述装置进行RTU启动疲劳试验的方法，包括由控制器执行的以下步骤：

步骤1，输出控制信号至电子开关控制端，使电子开关导通；

步骤2，实时采集被测RTU的一位DO的输出信号，并判断启动是否成功；

步骤3，输出控制信号至电子开关控制端，使电子开关断开；

步骤4，判断启动次数是否达到设定次数，如果没有达到设定次数，延迟一段时间后转步骤1；如果达到设定次数，试验结束。

进一步地，所述步骤2具体包括：

步骤2.1，实时采集被测RTU的一位DO输出信号；

步骤2.2，如果在设定时间内采集信号一直为低电平，认为启动失败，转步骤3；

步骤2.3，如果在设定时间内采集信号出现高电平，判断所述高电平是否为干扰信号，如果是干扰信号，转步骤2.1；如果不是干扰信号，认为启动成功，转步骤3。

更进一步地，所述设定时间为3分钟。