[发明专利]一种射频指标测试方法、系统及终端设备

说明书

本申请适用于射频指标测试技术领域，提供了一种射频指标测试方法、系统及终端设备，在样机主体通过射频同轴线与所述无线综测仪通信连接时，获取样机主体的射频指标，当样机主体的射频指标满足要求、样机主体设置于壳体中且与样机天线连接、待测样机和综测仪天线设置于同一屏蔽箱中且样机天线与综测仪天线位于同一水平高度时，获取待测样机的射频指标，并在待测样机的射频指标满足要求时，发出测试通过提示，否则发出调试射频指标测试系统的提示并返回获取样机主体的射频指标，可以准确的测试出样机主体设置于壳体和连接天线之前和之后的射频指标，获得安装壳体和天线之后对样机主体的射频性能的影响，提高测试结果的准确性，提高开发效率。

技术领域

本申请属于射频指标测试技术领域，尤其涉及一种射频指标测试方法、系统及终端设备。

背景技术

随着科学技术的不断发展，手机、平板电脑、智能手环、个人数字助理等各种无线通信设备层出不穷，为人们的生产和生活带来了极大便利。射频指标的调试测试是无线通信设备的开发过程中最关键的测试步骤。目前，无线通信设备的射频指标测试主要是基于射频同轴线直连的传导测试，即通过射频同轴线连接无线通信设备的PCBA(PrintedCircuit Board+Assembly)和无线综测仪(无线电综合测试仪)来完成测试，射频指标满足要求之后便进入整机无线性能的评估测试阶段，即OTA(Over-the-air)或动态范围(Dynamic Range)测试。

然而，现有的通过射频同轴线直连的传导测试，无法测试出装上壳体和天线后的PCBA辐射出来的干扰信号对测试结果造成的影响，从而导致测试结果不准确。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种射频指标测试方法、系统及终端设备，以解决现有的通过射频同轴线直连的传导测试，无法测试出装上壳体和天线后的PCBA辐射出来的干扰信号对测试结果造成的影响，从而导致测试结果不准确的问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种射频指标测试方法，基于射频指标测试系统实现，所述射频指标测试系统包括客户端、网关设备和无线综测仪；

所述客户端、所述无线综测仪和待测样机的样机主体与所述网关设备通信连接，以通过所述网关设备连接至同一通信网络；

所述客户端还与所述样机主体通信连接；

所述待测样机包括所述样机主体、壳体和至少两个样机天线；

所述射频指标测试方法包括：

当所述样机主体通过射频同轴线与所述无线综测仪通信连接时，获取所述样机主体的射频指标；

当所述样机主体的射频指标满足要求、所述样机主体设置于所述壳体中且与所述样机天线连接、所述待测样机和所述无线综测仪的综测仪天线设置于同一屏蔽箱中且所述样机天线与所述综测仪天线位于同一水平高度时，获取所述待测样机的射频指标；

所述待测样机的射频指标满足要求时，发出测试通过提示；否则，发出调试射频指标测试系统的提示，并返回获取所述样机主体的射频指标。

本申请实施例的第二方面提供了一种射频指标测试系统，包括客户端、网关设备和无线综测仪；

所述客户端、所述无线综测仪和待测样机的样机主体与所述网关设备通信连接，以通过所述网关设备连接至同一通信网络；

所述客户端还与所述样机主体通信连接；

所述待测样机包括所述样机主体、壳体和至少两个样机天线；

所述客户端包括：

第一获取模块，用于当所述样机主体通过射频同轴线与所述无线综测仪通信连接时，获取所述样机主体的射频指标；