[发明专利]一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法

权利要求书

1.一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：包括：

1)将Cs_xWO₃粉体与纯度不低于99.9％的纳米SiC粉体按照质量比为1:1～3的比例混合均匀，得到混合粉体；其中0＜x＜1；

2)取混合粉体进行XRD表征；

3)以SiC衍射主峰的高度H_SC为分母，以Cs_xWO₃粉体衍射主峰的高度H_CWO与H_SC的差值H_CWO-H_SC为分子，按照Z＝(H_CWO-H_SC)/H_SC，计算得到比值Z；

4)当所述比值Z大于0时，比值Z的绝对值越大，Cs_xWO₃粉体的结晶度越高；当所述比值Z小于0时，比值Z的绝对值越大，Cs_xWO₃粉体的结晶度越低。

2.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述Cs_xWO₃粉体中，x＝0.3～0.35。

3.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述SiC粉体的XRD测试图谱符合SiC标准卡片JSPDF NO.29-1129。

4.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述步骤1)中，混合均匀的方法为将所述Cs_xWO₃粉体与SiC粉体在玛瑙研钵中研磨0.5～2h。

5.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述步骤2)中，取0.06±0.01g混合粉体进行XRD表征。

6.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述步骤2)中，XRD表征使用的粉末衍射仪为Philips Panalytical X’pert。

7.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述步骤2)中，XRD表征的仪器参数为：Cu靶，λ＝0.15～0.16nm，工作电压25～35kV，工作电流25～35mA；XRD表征的测试参数为：步长0.016°～0.017°，每步停留0.05～0.2s，在10°～80°之间收集数据。

8.根据权利要求1所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述Cs_xWO₃粉体通过以下方式制备得到：以钨酸钠和碳酸铯为原料，以有机酸为还原剂，水热法合成Cs_xWO₃粉体。

9.根据权利要求8所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：以二水合钨酸钠制备钨酸钠溶液，将钨酸钠溶液通过强酸型阳离子交换树脂柱制备得到钨酸溶胶；向钨酸溶胶加入有机酸和碳酸铯，制得前驱液；将前驱液置于水热反应釜中，在170～180℃水热反应70～75h，取出产物，洗涤，干燥，得到所述Cs_xWO₃粉体。

10.根据权利要求8所述的铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：所述有机酸为柠檬酸、苹果酸、草酸、盐酸肼中的至少一种。