[发明专利]一种盲元检测方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例提供了一种盲元检测方法、装置及电子设备。该方法包括：获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备中的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的图像，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；计算所述多帧目标图像对应的至少一帧差值图像，其中，任一帧差值图像为将两帧目标图像作差所得的图像；针对每一帧差值图像，基于该差值图像和所述红外焦平面阵列中各个像元对应的关于该差值图像的像素值，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。通过本方案，可以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。

技术领域

本申请涉及红外热成像技术领域，特别是涉及一种盲元检测方法、装置及电子设备。

背景技术

受制造工艺、材料等因素的影响，红外热成像设备中的红外焦平面阵列均不可避免地存在盲元、非均匀性等问题。由于盲元的存在会影响后期的图像处理算法及视觉效果，因此需要对红外焦平面阵列中的盲元进行检测，从而后续执行去盲元处理。其中，盲元包括死像元与过热像元，根据国标GB/T17444-1998中的规定，死像元为响应率低于平均响应率1/10的像元，过热像元为响应率高于平均响应率10倍的像元。

并且，对于无温控的红外焦平面阵列而言，不同环境温度下像元的响应率的变化对盲元有很大影响，即，在一种环境温度下响应率处于正常范围的像元，在其他环境温度下可能响应率变为处于不正常范围，成为新的盲元。

因此，如何快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元，是一个亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种盲元检测方法、装置及电子设备，以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。具体技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种盲元检测方法，包括：

获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备中的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的图像，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；

计算所述多帧目标图像对应的至少一帧差值图像，其中，任一帧差值图像为将两帧目标图像作差所得的图像；

针对每一帧差值图像，基于该差值图像和所述红外焦平面阵列中各个像元对应的关于该差值图像的像素值，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。

可选地，所述多帧目标图像所对应的多个预定环境温度属于至少两个温度分区，每一温度分区包括至少两个预定环境温度；不同的温度分区下，所述红外热成像设备的目标设备参数不同；

所述计算所述多帧目标图像对应的至少一帧差值图像的步骤，包括：

针对每一组目标图像，计算该组目标图像对应的差值图像，其中，任一组目标图像所对应的预定环境温度属于同一温度分区。

可选地，所述获得关于辅助对象的多帧目标图像的步骤，包括：

按照所对应预定环境温度升序或降序的顺序，依次获得关于辅助对象的多帧目标图像；

所述针对每一组目标图像，计算该组目标图像对应的差值图像的步骤，包括：

针对每一组目标图像，从第二次获得目标图像开始，每次获得目标图像后，将当前获得的目标图像与上一次获得的目标图像作差，得到差值图像，并删除所述上一获得的目标图像。

可选地，所述针对每一帧差值图像，基于该差值图像和所述红外焦平面阵列中各个像元对应的关于该差值图像的像素值，确定所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤之前，所述方法还包括：

针对每一帧差值图像，获取与该差值图像匹配的增益矩阵，并利用所获取的增益矩阵对该差值图像进行数据放大处理。