[发明专利]一种incell产品银浆导通测试方法

说明书

本发明公开一种incell产品银浆导通测试方法，通过在显示模组上设置银浆点并测量所述银浆点与FPC上的GND之间的电阻来测试银浆是否导通。本发明的方法可以确切测试银浆是否导通，提升了良品率，避免了不良品流入客户端。

技术领域

本发明涉及液晶显示模组测试技术领域，尤其涉及一种incell产品银浆导通测试方法。

背景技术

现有检测银浆是否导通的技术分两种，第一种是针对非incell的IPS产品或者是镀高阻膜的incell产品，使用万用表直接测量ITO到FPC上的GND来判断导通性；第二种是针对没有镀高阻膜而使用导电偏光片的incell产品，通过外观检查其点银浆的效果进行判定。第一种方法只适用于非incell产品或者是带高阻膜的incell产品，第二种方法只能通过外观检查来进行电性能的导通性判断，存在漏检的可能，而银浆未良好导通将导致产品装在整机上后出现电荷聚集，影响显示和触控效果。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种incell产品银浆导通测试方法。

本发明的技术方案如下：本发明提供一种incell产品银浆导通测试方法，该方法包括以下步骤：

步骤1，提供一显示模组，所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆，所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT上的导电区域，所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上；

步骤2，提供一用于测量电阻的测量设备，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触；

步骤3，读取测量设备的测试结果，如果测量设备的显示屏上显示有电阻值，发出“滴滴”的声音，则判断为银浆导通，产品OK；如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音，则银浆未导通，产品NG。

进一步地，所述第一银浆的数量为2个，所述第二银浆的数量为1个。

进一步地，2个第一银浆对称设于所述显示模组的侧面上。

进一步地，所述偏光片为带有导电功能的偏光片。

进一步地，所述第一银浆呈“L”型，所述第二银浆呈“一”字型。

进一步地，所述第一银浆分别与偏光片、彩色滤光片和TFT基板接触。

进一步地，所述测量设备为电阻测量仪。

进一步地，所述步骤2包括：

步骤2.1，提供一用于测量电阻的测量设备；

步骤2.2，测量设备进行自检；将测量设备的一根表笔与另一根表笔相互接触，显示测量的电阻为0并发出警报声音时，说明测量设备正常工作；

步骤2.3，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触。

采用上述方案，本发明的方法可以确切测试银浆是否导通，提升了良品率，避免了不良品流入客户端。

附图说明

图1为本发明的显示模组结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。

请参阅图1，本发明提供一种incell产品银浆导通测试方法，该方法包括以下步骤：