[发明专利]在轨道型离子阱中进行离子反应和分析的方法有效

专利信息
申请号: 201810533915.7 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN108807133B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 余泉;李曼;王晓浩;倪凯;钱翔 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: H01J49/06 分类号: H01J49/06;H01J49/26
代理公司: 44223 深圳新创友知识产权代理有限公司 代理人: 徐罗艳<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 子离子 离子阱 矩形轨道 离子反应 扇形轨道 离子 轨道 束缚 控制轨道 离子分析 碰撞发生 真空条件 离子门 预设 分析 激发
【说明书】:

本发明公开一种在轨道型离子阱中进行离子反应和分析的方法,轨道型离子阱包括共同围成环状的第一子离子阱和第二子离子阱,第一子离子阱包括第一矩形轨道和位于第一矩形轨道两端的两个扇形轨道,第二子离子阱包括第二矩形轨道和位于第二矩形轨道两端的两个扇形轨道;第一和第二子离子阱分别用于束缚两种待反应的离子;所述方法包括:将两种待反应的离子分别束缚于第一子离子阱和第二子离子阱中,并控制第一和第二子离子阱两端的扇形轨道的离子门打开,使得被束缚于第一和第二子离子阱内的两种离子在真空条件下碰撞发生反应;在离子反应持续预设时间后,控制轨道型离子阱进入离子分析阶段,将离子反应产物激发出所述轨道型离子阱。

技术领域

本发明涉及离子阱质谱仪领域,尤其是涉及一种在小型化的轨道型离子阱中进行离子反应和分析的方法。

背景技术

质谱仪是一种通过定性、定量地测定物质的荷质比,从而确定该物质的仪器。离子阱是离子阱质谱仪的核心部件之一,离子阱将离子按照荷质比的大小将离子区分开来,并依次送入离子检测器。

H形阵列离子阱反应器,虽然能够实现离子分析和离子反应,但是由于矩形离子阱本身的限制,即离子门的存在,两种待反应的离子只能部分的进入中间的用于离子反应的阱中,离子反应效率低。

以上背景技术内容的公开仅用于辅助理解本发明的发明构思及技术方案,其并不必然属于本专利申请的现有技术,在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日前已经公开的情况下,上述背景技术不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种在轨道型离子阱中进行离子反应和分析的方法,借助于质谱仪的真空条件下离子之间的碰撞完成不同离子间的离子反应,克服普通离子反应的诸多限制(如:反应一般在溶液中进行,生成难溶解及难电离或者挥发性物质等),并可以使几乎所有被束缚的离子进行反应,提高反应效率,并分析反应过程的中间产物或最终产物的离子。

本发明为达上述目的提出以下技术方案:

一种在轨道型离子阱中进行离子反应和分析的方法,所述轨道型离子阱包括共同围成环状的第一子离子阱和第二子离子阱,所述第一子离子阱包括第一矩形轨道和位于所述第一矩形轨道两端的两个扇形轨道,所述第二子离子阱包括第二矩形轨道和位于所述第二矩形轨道两端的两个扇形轨道;第一和第二子离子阱分别用于束缚两种待反应的离子;所述方法包括:

将两种待反应的离子分别束缚于第一子离子阱和第二子离子阱中,并控制所述第一和第二子离子阱两端的扇形轨道的离子门打开,使得被束缚于所述第一和第二子离子阱内的两种离子在真空条件下碰撞发生反应;在离子反应持续预设时间后,控制所述轨道型离子阱进入离子分析阶段,将离子反应产物激发出所述轨道型离子阱。

本发明提供的上述技术方案,离子束缚、反应和分析均在一个整体的离子阱中进行,只需要通过控制施加的电压,即可依次实现离子束缚、离子反应和离子分析,从而克服离子在传输过程中产生损耗的缺陷,保证离子反应效率,有利于反应器的小型化。

附图说明

图1是本发明实施例中用于进行离子反应的轨道型离子阱结构示意图;

图2是图1所示离子阱的俯视图;

图3是图1所示离子阱的侧视图;

图4是图1所示离子阱的另一侧视图;

图5是本发明采用如图1所示的离子阱进行离子反应和分析的电压施加时序图。

具体实施方式

下面结合附图和具体的实施方式对本发明作进一步说明。

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