[发明专利]一种阵列磁体组合式进样装置有效

专利信息
申请号: 201810535259.4 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN108508048B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 张昌盛;王云;陈良;孙良卫;孙光爱 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N23/202 分类号: G01N23/202
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 磁体 组合式 装置
【权利要求书】:

1.一种阵列磁体组合式进样装置,其特征在于:所述的进样装置包括支撑框架(1)、磁体(2)、连接片(5)和样品插片(6),所述的支撑框架(1)为四方框形状,四方框顶部的顶板开有多组磁体孔(12)和插片孔(13),每组磁体孔(12)和插片孔(13)包括一个磁体孔(12)和一个插片孔(13),各组磁体孔(12)和插片孔(13)串列排列,每个磁体孔(12)内插入一个磁体(2),盖板(10)通过固定螺丝(11)固定在四方框顶部,用于固定磁体(2)的位置,各个磁体(2)之间的下部通过连接片(5)连接,各个磁体(2)之间的上部和中间留有空隙,多个样品插片(6)分别通过盖板(10)上的插片孔(13)插入空隙中;所述的连接片(5)的材料为纯铁、硅钢或铁镍合金中的一种;所述的样品插片(6)的材料为铝合金、钒合金或钛锆合金中的一种。

2.根据权利要求1所述的阵列磁体组合式进样装置,其特征在于:

所述的样品插片(6)为长方体,长方体的上表面开有光阑孔(7),侧面开有侧方孔(15)。

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