[发明专利]双采样值的一致性确定方法、装置、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种双采样值的一致性确定方法，其特征在于，包括：

获取被测电气量的第一采样值和第二采样值；

根据所述第一采样值和所述第二采样值的矢量和与矢量差，计算第一预设时间内矢量和的积分值与所述第一预设时间内矢量差的积分值；

当所述矢量和的积分值与所述矢量差的积分值满足预设条件时，确定第一采样值和第二采样值不一致；其中，所述当所述矢量和的积分值与矢量差的积分值满足预设条件时，确定第一采样值和第二采样值不一致，包括：计算第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积；判断所述矢量差的积分值是否大于等于第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积；当所述矢量差的积分值大于等于第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积时，确定所述第一采样值和所述第二采样值不一致；

其中，所述第二预设阈值的计算公式为：

其中，t为允许延时时间，T为被测电气量的周期。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样值和所述第二采样值的矢量和与矢量差，计算第一预设时间内矢量和的积分值与所述第一预设时间内矢量差的积分值之前，所述方法还包括：

计算所述第一采样值和所述第二采样值的矢量和与矢量差；

判断所述矢量差是否大于等于所述矢量和与第一预设阈值的乘积且所述矢量和是否大于等于预设参数值；

当所述矢量差大于等于所述矢量和与第一预设阈值的乘积且所述矢量和大于等于预设参数值时，确定所述第一采样值和所述第二采样值不一致；

当所述矢量差小于所述矢量和与第一预设阈值的乘积或者所述矢量和小于所述预设参数值时，执行计算第一预设时间内矢量和的积分值和第一预设时间内矢量差的积分值的操作。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定第一采样值和第二采样值不一致之后，所述方法还包括：

闭锁所述第一采样值和所述第二采样值对应的保护出口；

延时第二预设时间后发出双AD采样值不一致告警。

4.一种双采样值的一致性确定装置，其特征在于，包括：获取模块、计算模块和确定模块；其中，

所述获取模块，用于获取被测电气量的第一采样值和第二采样值；

所述计算模块，用于根据所述第一采样值和所述第二采样值的矢量和与矢量差，计算第一预设时间内矢量和的积分值与所述第一预设时间内矢量差的积分值；

所述确定模块，用于当所述矢量和的积分值与所述矢量差的积分值满足预设条件时，确定第一采样值和第二采样值不一致；其中，所述确定模块，具体用于计算第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积；判断所述矢量差的积分值是否大于等于第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积；当所述矢量差的积分值大于等于第二预设阈值与所述矢量和的积分值的乘积时，确定所述第一采样值和所述第二采样值不一致；

其中，所述第二预设阈值的计算公式为：

其中，t为允许通道延时时间，T为被测电气量的周期。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：判断模块，其中，

所述计算模块，还用于计算所述第一采样值和所述第二采样值的矢量和与矢量差；

所述判断模块，用于判断所述矢量差是否大于等于所述矢量和与第一预设阈值的乘积且所述矢量和是否大于等于预设参数值；

计算模块，具体用于当所述矢量差小于所述矢量和与第一预设阈值的乘积或者所述矢量和小于所述预设参数值时，执行计算第一预设时间内矢量和的积分值和第一预设时间内矢量差的积分值的操作；

确定模块，还用于当所述矢量差大于等于所述矢量和与第一预设阈值的乘积且所述矢量和大于等于预设参数值时，确定所述第一采样值和所述第二采样值不一致。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置，还包括：闭锁模块和告警模块；其中，

所述闭锁模块，用于闭锁与所述第一采样值和所述第二采样值对应的保护出口；

所述告警模块，用于延时第二预设时间后发出双AD采样值不一致告警。