[发明专利]液晶显示器面板检测装置及液晶显示器面板检测方法

说明书

本发明提供一种应用于液晶显示器检测设备技术领域的液晶显示器面板检测装置，本发明还涉及一种液晶显示器面板检测装置检测方法，所述的液晶显示器面板检测装置的放大镜(2)和贴上偏光片白玻璃(3)固定连接，放大镜(2)和贴上偏光片白玻璃(3)组成移动部件(6)，贴下偏光片白玻璃(4)和背光源(5)分别与装置板台(1)连接，本发明的液晶显示器面板检测装置及检测方法，能够方便快捷对液晶显示器面板(面板、薄化面板)的显示碎亮点进行检测，实现检测工序前移，能做到随时监控，随时改善，同时检测准确度高，从而有效避免面板批量性不良造成的损失，降低企业成本。

技术领域

本发明属于液晶显示器检测设备技术领域，更具体地说，是涉及一种液晶显示器面板检测装置，本发明还涉及一种液晶显示器面板检测装置检测方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)从一个新兴的行业逐渐成熟，因此体积小，低功耗，重量轻，美观等优势而获得了广泛的关注和研究。随着便携式电脑、办公应用、大屏幕显示屏的广泛应用，人们对于显示品质有了更高的要求。因此显示器面板生产商对于显示碎亮点不良(Zara Particle，简称P/T)有了更加严格的要求。目前的液晶显示面板主要为宽视角方向，传统的扭曲向列型(Twisted Nematic，TN型)面板已经不能满足客户的使用要求。为了满足宽视角的要求，边缘场效应(Fringe Field Switching，简称FFS)宽视角型液晶显示面板被开发出来。但是，FFS模式面板更容易发生碎亮点不良，产生Zara P/T的原因有很多，例如液晶结构设计，制造工艺等。一般认为Zara P/T主要是由于摩擦工艺导致。在减薄液晶面的加工过程中Polish，又成为了Zara P/T产生的高风险的环节。由于Zara P/T该不良问题在普通日光灯的检验下是无法检测出来，因此如何改善和控制抛光后液晶面板的Zara P/T不良，也成为减薄工厂对面板抛光品质管控的很重要要求之一；目前检测Zara P/T不良时，通常是通过模组自动点灯机进行检测，已抛光的TFT-LCD面板如若产生Zara P/T不良，则导致的碎亮点不良就会是批量性不良，损失巨大。因此如何控制TFT-LCD面板在抛光过程中，就能够及时发现不良、抑制不良依旧是目前薄化厂商长期存在的瓶颈之一。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对现有技术的不足，提供一种结构简单，能够方便快捷对液晶显示器面板(面板、薄化面板)的显示碎亮点进行检测，实现检测工序前移，能做到随时监控，随时改善，同时检测准确度高，从而有效避免面板批量性不良造成的损失，降低企业成本的液晶显示器面板检测装置。

要解决以上所述的技术问题，本发明采取的技术方案为：

本发明为一种液晶显示器面板检测装置，所述的一种液晶显示器面板检测装置包括装置板台、放大镜、贴上偏光片白玻璃、贴下偏光片白玻璃、背光源，放大镜和贴上偏光片白玻璃固定连接，放大镜和贴上偏光片白玻璃组成移动部件，贴下偏光片白玻璃和背光源分别与装置板台连接，待检测面板设置为能够放置在贴上偏光片白玻璃和贴下偏光片白玻璃之间位置的结构。

所述的放大镜位于贴上偏光片白玻璃上方位置，背光源位于贴下偏光片白玻璃下方位置，所述的待检测面板放置在贴上偏光片白玻璃和贴下偏光片白玻璃之间位置时，待检测面板上表面贴合在贴上偏光片白玻璃上，待检测面板下表面贴合在贴下偏光片白玻璃上。

所述的背光源包括光源箱体和光源本体，光源箱体与装置板台固定连接，光源本体固定安装在光源箱体内，所述的光源箱体上表面与贴下偏光片白玻璃下表面之间设置防静电胶皮。

所述的背光源的背光箱体嵌装在装置板台上，背光源的光源本体为扁平荧光灯，背光源的光原本体的照度在10000LUX以上。

所述的液晶显示器面板检测装置的放大镜设置为能够放大20倍或50倍或100倍的结构。