[发明专利]接近检测方法及装置、电子装置、存储介质和设备

说明书

本发明公开了一种用于电子装置的接近检测方法。电子装置包括接近传感器，接近传感器用于发射红外光并接收物体反射的红外光，控制方法包括步骤：获取当前环境光中的红外光的第一强度值；获取接近传感器接收到的红外光的第二强度值；和根据第一强度值和第二强度值检测物体至电子装置的距离以判断物体是否接近或远离电子装置。本发明还公开了一种接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。本发明实施方式的接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备，通过检测接近传感器接收到红外光的强度和环境光中红外光的强度来判断物体与电子装置的距离，能够减小环境光对接近传感器的检测造成的干扰。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。

背景技术

接近传感器利用发射的红外光检测物体与移动终端的距离从而判断物体与移动终端的远离或靠近。在某些使用场景中，接近传感器将受到阳光中的红外线的干扰而导致判断出现误差。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种控制方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。

本发明提供了一种接近检测方法，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外光并接收物体反射的红外光，所述控制方法包括步骤：

获取当前环境光中的红外光的第一强度值；

获取所述接近传感器接收到的红外光的第二强度值；和

根据所述第一强度值和所述第二强度值检测所述物体至所述电子装置的距离以判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

在某些实施方式中，所述接近检测方法包括步骤：

检测当前环境光的亮度值；和

在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取当前环境光中的红外光的所述第一强度值。

在某些实施方式中，所述接近检测方法包括步骤：

若所述亮度值小于所述亮度预定阈值，根据所述第二强度值检测所述物体至所述电子装置的距离以判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

在某些实施方式中，所述检测当前环境光的亮度值的步骤包括：

获取当前环境的多帧图像；和

根据所述多帧图像计算当前环境的所述亮度值。

在某些实施方式中，所述在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时获取当前环境光中的红外光的所述第一强度值的步骤包括：

检测所述电子装置的倾斜角度；和

在所述倾斜角度小于角度预定阈值时，获取当前环境光中的红外光的所述第一强度值。

在某些实施方式中，所述接近检测方法包括步骤：

若所述倾斜角度大于或等于角度预定阈值，根据所述第二强度值检测所述物体至所述电子装置的距离以判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

本发明提供了一种接近检测装置，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外光并接收物体反射的红外光，所述接近检测装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取当前环境光中的红外光的第一强度值；

所述获取模块还用于获取所述接近传感器接收到的红外光的第二强度值；和

判断模块，所述判断模块用于根据所述第一强度值和所述第二强度值检测所述物体至所述电子装置的距离以判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。