[发明专利]一种动态宽频高磁密旋转磁特性测量传感装置

说明书

本发明公开了动态宽频高磁密旋转磁特性测量传感装置，包括下固定支架、样片定位卡槽、绝缘垫片、开槽绝缘垫片、复合线圈PCB板、H线圈、B探针、铜屏蔽罩、上固定支架、H线圈基板和H线圈引出线。本发明将测量H感应信号的H线圈、测量B感应信号的B探针集成到一张复合线圈PCB板上，保证在更换样品时不伤害测量B信号和H信号的传感结构。不同数量的绝缘垫片可以产生不同的厚度，以满足更换不同厚度的待测样片时，B探针仍然可以与样片紧贴，不同数量的开槽绝缘垫片将待测样片进行压紧固定，保证了B探针与H线圈可以同时紧贴样品，避免了样片在较高频率下或者较高磁密下进行测试时震动过于剧烈产生误差。

技术领域

本发明磁特性测量领域，具体是一种动态宽频高磁密旋转磁特性测量传感装置。

背景技术

目前较为通用的硅钢片二维磁特性测量方法是用测量装置产生一个与轧制或切向方向成任意角度的旋转磁场，这个磁场形状一般被控制为圆形或者椭圆形，这个旋转磁场在样品上激发磁场，样品被磁化，将样品的磁场信号通过信号采集系统进行采集，对采集到的结果进行数据处理，得到需要的实验数据。

传统的二维磁特性测量传感结构不方便拆装，每一次更换不同种材料或者厚度的样品都需要重新制作传感结构，尤其是线圈的安放位置会有较大的偏差，对测量结果产生了较大的误差。

传统的二维磁特性测量传感结构只适用于低频下待测样片的磁特性测量，频率较高或者磁密较高时，样片的震动会很剧烈，样片的强烈震动会使得测量结果产生较大的波动，也会使传感信号难以控制为期望的形状；同时B传感器和H传感器会因为强烈的震动不能保证紧贴样品，造成实验结果测量不准，无法测量频率较高或者磁密较高时的样片的磁特性，这种极限工作条件下磁性材料的磁特性在工程中有极其重要的应用，在进行测量实验时应该被考虑和进行精确测量。

传统的二维磁特性测量传感结构在测量B感应信号的时候，采用对样片打孔的形式，这种方法对待测样片要测量的区域造成了一定程度上的破坏，对实验结果产生了较大的误差，使得测量结果不准。文献《张艳丽,何厚键,谢德馨,KOH Chang-seop.基于二维磁特性测量的电工钢片矢量磁滞模型[J].中国电机工程学报,2010,30(03):130-135.》中测量B传感信号采用的是在样片上打孔进行测试的方法，这种方法属于破坏性测量，打孔对待测样片上的测量区域会产生残留应力，对的磁特性的测量有较大影响。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明拟解决的技术问题是，提供一种动态宽频高磁密旋转磁特性测量传感装置。

本发明解决所述技术问题的技术方案是，提供一种动态宽频高磁密旋转磁特性测量传感装置，其特征在于该装置包括下固定支架、样片定位卡槽、绝缘垫片、开槽绝缘垫片、复合线圈PCB板、H线圈、B探针、铜屏蔽罩、上固定支架、H线圈基板和H线圈引出线；

所述上固定支架与下固定支架连接；所述样片定位卡槽的四角具有定位块；所述绝缘垫片放置于样片定位卡槽上，卡在定位块间；测试时，待测样片放置于绝缘垫片上，卡在定位块间；所述开槽绝缘垫片放置于待测样片上，卡在定位块间，中间开槽；所述H线圈连接于复合线圈PCB板的中心位置处；所述H线圈基板位于两个正交套置的H线圈中间；所述H线圈引出线的一端与H线圈连接，另一端与复合线圈PCB板上的H线圈孔连接；所述B探针焊接于复合线圈PCB板的焊盘上，测量时，测量端与待测样片表面接触；B探针通过复合线圈PCB板的内部引线引出至B探针孔；所述复合线圈PCB板安装在定位块上；所述下固定支架的中间位置具有凸台；所述样片定位卡槽放置于凸台上；一个铝制螺丝螺纹安装在上固定支架上，顶端与铜屏蔽罩的一端面接触，铜屏蔽罩的另一端面与复合线圈PCB板接触且边缘与复合线圈PCB板对齐。

与现有技术相比，本发明有益效果在于：

(1)下固定支架通过四周的四根立柱与上固定支架进行连接，保证了整体装置的稳定性。