[发明专利]一种测试床拓扑结构的二分图采样方法及装置

权利要求书

1.一种测试床拓扑结构的二分图采样方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

步骤1，获取计算机网络二分图拓扑结构G＝(V₁,V₂,E)中节点集V₁包含所有节点的度，设d₁,d₂,…,d_s为这些节点度中互不重复的全部节点度，其中d₁d₂…d_s0，V₁和V₂为二分图拓扑结构G的节点集且E为G的边集，s为大于0的正整数，设定规模缩减率R_R，其被定义为需要从计算机网络二分图拓扑结构G＝(V₁,V₂,E)中删除的边数与||E||的比率，其中||E||表示集合E的势，集合E的势为边集E包含元素的总数；缺省情况下R_R的取值为0.96；

步骤2，计算节点度d₁,d₂,…,d_s在节点集V₁的分布比率f(d₁),f(d₂),…,f(d_s)，其中f(d_k)被定义为集合V₁中度为d_k的节点数与||V₁||的比率，其中，k＝1,2,…,s；

步骤3，获取二分图拓扑结构G中节点集V₂包含所有节点的最大度d_max；

步骤4，获取节点集V₂的度分布{g(d)|d＝1,2,…,d_max}，其中g(d)表示节点集V₂中度为d的节点数与||V₂||的比率；

步骤5，初始化二分图G′＝(V₁′,V′₂,E′)←G＝(V₁,V₂,E)；

步骤6，初始化节点度分布{g′(d)|d＝1,2,…,d_max}←{g(d)|d＝1,2,…,d_max}；

步骤7，初始化变量t←0，并计算需要删除边的总数E_d＝||E||·R_R；

步骤8，如果tE_d，转步骤9；否则，当前状态G′＝(V₁′,V₂′,E′)为最终输出结果，转步骤15；

步骤9，设集合如果||S||0，任意选择集合S中一个节点v，并计算得到边的集合

如果||S||＝0，以离散概率分布p_k/Σ_{i＝1,2,…,s}p_i随机抽取一个节点度d∈{d₁,d₂,…,d_s}，其中p_k被定义为f(d_i)在步骤2已被计算获得，计算得到边的集合E_o＝{(v,w)|v∈V₁′∧w∈V′₂∧(v,w)∈E′∧d_v＝d}，其中，k＝1,2,…,s；i＝1,2,…,s；

步骤10，计算d^h＝arg_dmax_d∈D{g′(d)-g(d)}，其中，所述d^h＝arg_dmax_d∈D{g′(d)-g(d)}表示将集合D中使得g′(d)-g(d)最大值的d的取值赋值给d^h，其中d∈D，所述表示以二分图G′＝(V₁′,V′₂,E′)中节点度d_w为元素的集合，其中节点w满足以下要求：节点w属于节点集V′₂且存在节点集V₁′中的一个节点v使得边(v,w)属于集合E_o；

步骤11，计算集合E_o的一个子集：E_a＝{(v,w)|(v,w)∈E_o∧d_w＝d^h}；

步骤12，从集合E_o中均等概率分布地抽取一条边e，

将该边从二分图G′＝(V₁′,V′₂,E′)中删除，即更新E′←E′/{e}，同时更新二分图G′＝(V₁′,V′₂,E′)的节点集V₁′和V′₂：将节点集V₁′和V′₂中度为0的节点删除；

步骤13，更新节点度分布{g′(d)|d＝1,2,…,d_max}，其中g′(d)为节点集V′₂中度为d的节点数与||V′₂||的比率，其中，d＝1,2,…,d_max；

步骤14，更新t←t+1，转步骤8；

步骤15，依据输出的采样二分图G′＝(V₁′,V′₂,E′)在计算机网络测试床上调用仿真节点资源，生成测试床的仿真拓扑结构。