[发明专利]一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法

权利要求书

1.一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，

使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件，用于控制固体样品的温度范围内变化；积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的光学参数测量；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置，位于积分球开口处正下方1-2mm，控制固体样品的温度范围为4K-500K；所述固体样品位于所述控温部件中，是粉末或薄膜样品；光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。

2.根据权利要求1所述的宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，所述光纤长度范围为1至5m。

3.根据权利要求2所述的宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，所述光谱仪是紫外、可见、近红外荧光光谱仪或吸收光谱仪中的任意一种。

4.根据权利要求3所述的宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，所示固体样品是蒽或1,1,4,4-四苯基1,3-丁二烯。

5.根据权利要求4所述的宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，所述控温部件是牛津公司的microstat装置。

6.根据权利要求5所述的宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，所述光谱仪是爱丁堡公司的FLS980。