[发明专利]导电外壳中双绞线寄生电容和电导的提取方法有效
申请号: | 201810566383.7 | 申请日: | 2018-06-05 |
公开(公告)号: | CN108829963B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 孙亚秀;王建丽;钱军竹;林蒙;张铭;宋文良;梁非 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工程大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电 外壳 双绞线 寄生 电容 电导 提取 方法 | ||
1.导电外壳中双绞线寄生电容和电导的提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:建立双绞线近似周期交替反转模型,导线被两层不同介质包围,第一层为绝缘层,第二层为自由空间;获取双绞线内导体半径为rw、绝缘层外半径为rm、导电外壳内半径为rs、绝缘层磁导率μ、绝缘层介电常数ε、有耗绝缘层损耗角δ、导线间的角度为θij;
步骤2:提取每层介质区域电感矩阵L(INSUL)和L(FS);
对于导线被圆形绝缘介质包围的情况,有μ=μ0,μ0为自由空间磁导率,因此单位长度电感不受非均匀介质的影响,即与置于自由空间中的情形相同;将自由空间中、绝缘层中单位长度电感矩阵分别定义为L(FS)、L(INSUL),使用镜像法来求取导线间寄生电感,导电外壳位于壳中心半径方向上处的镜像电流代替,di为第i根导线中心与外壳中心轴线间的距离;
绝缘介质中单位长度自电感和单位长度互电感为:
其中,s1为导线i中心到导线j绝缘层外层A点的距离;s2为导线i的镜像中心到导线j绝缘层外层A点的距离;sij为导线i中心到导线j中心的距离;s″为导线i的镜像中心到导线j中心的距离;
自由空间中单位长度自电感和单位长度互电感为:
其中,s′1为导线i中心到理想导电外壳B点的距离;s′2为导线i镜像中心到理想导电外壳B点的距离;
由lii(INSUL)、lij(INSUL)得到绝缘层中单位长度电感矩阵L(INSUL);由lii(FS)、lij(FS)得到自由空间中的单位长度电感矩阵L(FS);
步骤3:提取每层介质区域复电容矩阵和C(FS);
将绝缘层、自由空间中的单位长度复电容矩阵分别定义为C(FS);若介电常数为实的,电容就为实的,反之,为复数;
L(FS)C(FS)=μ0ε0E(n)
其中,E(n)为n阶单位矩阵;为绝缘层复介电常数;ε0为自由空间介电常数;
步骤4:因为在两个介质接触面,即表面r=rm处是等势面,所以总复电容可看作每个区域复电容的串联;由总复电容提取单位长度净电容C和净电导矩阵G;
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