[发明专利]一种超声无损检测数据的结构噪声数字滤波方法在审

专利信息
申请号: 201810567564.1 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN108931574A 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 关雪飞 申请(专利权)人: 北京领示科技有限公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 代理人: 李鹏
地址: 100089 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 数字滤波器 二维数组 结构化 超声 噪声 无损检测数据 采样位置 几何特征 结构噪声 数字滤波 构建 超声无损检测设备 背景噪声信号 二维离散卷积 超声脉冲 函数处理 回波数据 数据检测 图像显示 无损检测 原始数据 真实缺陷 波幅 二值化 散点状 二维 滤波 滤除 扫查 剔除
【说明书】:

发明公开了一种超声无损检测数据的结构噪声数字滤波方法,包括以下步骤:S1.超声无损检测设备沿扫查路径上每一个采样位置进行数据检测,获取各采样位置对应的A扫数据,并形成原始二维数组;S2.将原始二维数组作为图像显示,此时结构化噪声具有明显的几何特征,根据结构化噪声的几何特征构建数字滤波器;S3.利用构建的数字滤波器对二维原始数据进行滤波,实现原始二维数组的二维离散卷积操作;S4.对数字滤波器处理后的数据,进行波幅阈值二值化函数处理;S5.对部分离散、呈散点状的背景噪声信号进行剔除。本发明针对超声脉冲、回波数据中存在的结构化噪声,进行了针对性的滤除,且不影响真实缺陷所对应的信号,提高了超声无损检测的准确性。

技术领域

本发明涉及超声无损检测,特别是涉及一种超声无损检测数据的结构噪声数字滤波方法。

背景技术

超声脉冲-回波检测材料内部缺陷的技术中,对缺陷的判定是基于回波幅值大小。当回波幅值超过给定的阈值时,则认为该信号点在结构物理位置处存在缺陷;脉冲-回波信号数据是对超声波传播路径上各点的累积效应,如图1所示,A点位置的信号,实际上传感器激发的超声波传播到A点并返回到传感器时的采样信号,因此,其中也包含了材料内部的微观组织结构(如晶粒尺寸、局部各向异性)对超声波的影响。此外,结构在制备过程中(如铸造、锻造、表面处理)产生的结构化材料不连续,也造成了超声波信号的影响。

这些影响直接关系到对缺陷和判定和最终定量,对超声无损检测的准确性带来了不利影响,必须能够判定给定的信号是否为噪声,并进一步剔除其影响,才能得到准确的检测结果。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种超声无损检测数据的结构噪声数字滤波方法,针对超声脉冲、回波数据中存在的结构化噪声,进行了针对性的滤除,且不影响真实缺陷所对应的信号,提高了超声无损检测的准确性。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种超声无损检测数据的结构噪声数字滤波方法,包括以下步骤:

S1.超声无损检测设备沿扫查路径上每一个采样位置进行数据检测,获取各采样位置对应的A扫数据,并形成原始二维数组;

S2.将原始二维数组作为图像显示,此时结构化噪声具有明显的几何特征,根据结构化噪声的几何特征构建数字滤波器;

S3.利用构建的数字滤波器对二维原始数据进行滤波,该滤波等价于使用数字滤波器的数组,对原始二维数组做二维离散卷积操作;

S4.对数字滤波器处理后的数据,进行波幅阈值二值化函数处理;

S5.对部分离散、呈散点状的背景噪声信号进行剔除。

进一步地,所述步骤S1包括:

在扫查路径的第一个采样位置,超声无损检测设备通过探头发射和接收超声波,获取并记录一维时间信号,记为该采样位置的A扫数据;

探头沿着扫查路径移动到下一个采样位置进行超声波收发,获取该位置的A扫数据;

依次地,超声无损检测设备获得扫查路径上每一个采样位置对应的A扫数据,并将各个A扫数据堆叠形成原始二维数组。

进一步地,所述步骤S4包括:

给定一个预设的百分比阈值α,对于数字滤波器处理后的图像数据,全部像素根据公式二值函数进行操作:

其中I(x)是x索引的像素幅值,Imax是全局最大幅值,J(x)是x索引的结果。

进一步地,所述步骤S5包括:

从波幅阈值二值化函数处理后的数据中,确定存在背景噪声信号的散点区域;

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