[发明专利]基于电注入方式的IRFPA ROIC串扰测试电路以及测试方法

权利要求书

1.一种基于电注入方式的IRFPA ROIC串扰测试电路，其特征在于，包括：信号选择电路、注入管、读出电路ROIC、测试电路和计算机自动测试系统；

光敏像元信号输出端连接信号选择电路像元信号输入端，测试电路信号发送端连接光电转换电路信号接收端，光电转换电路信号发送端连接工作测试开关一端，工作测试开关另一端连接注入管信号接收端，注入管信号发送端连接信号选择电路测试信号接收端，信号选择电路输出端连接读出电路ROIC信号接收端，读出电路ROIC信号输出端连接计算机自动测试系统信号接收端；

所述串扰测试电路的测试方法，包括如下步骤：

S1，光敏像元单元电路产生光信号，设定关闭注入管，通过信号选择电路与红外焦平面阵列直接进行成像操作；

S2，当切换到串扰测试阶段，通过工作测试开关连通注入管，信号选择电路切换到测试状态，光敏像元单元电路的光信号通过光电转换电路将光信号转换为电信号，使注入管开启串扰测试，注入管调整注入的电压信号形成变换的测试信号，通过计算机自动测试系统进行信号输出成像；

所述测试信号包括：

对测试电路发送驱动信号，在特定时间间隔范围内产生交错的时钟信号，在若干列的测试信号值为高电平，剩余列的测试信号为低电平，通过计算机自动测试系统生成m×n的点的图像；

输入对时钟CLK分频系数的控制信号A，控制频率可调，若A为1，则对时钟CLK分频系数进行二分频，形成C_py行扫描的时钟信号、S_x列起始脉冲信号，S_y行起始脉冲信号，C_px列扫描时钟信号，通过点图像的电信号注入模拟点图像的光信号，

S-A，根据时钟CLK分频系数，对控制信号A为1，S_y行起始脉冲信号初始生成低电平信号，运行扫描开始时，S_y行起始脉冲信号跃升为高电平信号，运行一个像元时钟周期的高电平信号之后，S_y行起始脉冲信号降为低电平信号，S_y行起始脉冲信号在低电平信号维持多个行周期后，到新的一行的扫描开始，再次将S_y行起始脉冲信号跃升为高电平信号，依次周期性重复，一直持续到设定的测试阈值次数结束；

S-B，根据时钟CLK分频系数，对控制信号A为1，C_py行扫描的时钟信号初始生成低电平信号，扫描开始时，C_py行扫描的时钟信号跃升为高电平信号，运行半个行周期高电平信号之后，C_py行扫描的时钟信号降为低电平信号，C_py行扫描的时钟信号在低电平信号维持半个行周期后，再次将C_py行扫描的时钟信号跃升为高电平信号，一直到行像元个数扫描完成后，持续变为低电平被截断，直到新的一行的起始开始，重复生成时钟信号，直持续到设定的测试阈值次数结束；

S-C，根据时钟CLK分频系数，对控制信号A为1，S_x列起始脉冲信号初始生成低电平信号，列扫描开始时，S_x列起始脉冲信号跃升为高电平信号，运行一个像元时钟周期高电平信号之后，S_x列起始脉冲信号降为低电平信号，S_x列起始脉冲信号在低电平信号维持一个行周期后，再次将S_x列起始脉冲信号跃升为高电平信号，运行一个像元周期高电平后，变为低电平，S_x行起始脉冲信号维持多个列周期后，到新的一列的扫描开始，再次将S_x列起始脉冲信号跃升为高电平信号；依次周期性重复；一直持续到设定的测试阈值次数结束；

S-D，根据时钟CLK分频系数，对控制信号A为1，C_px列扫描时钟信号在列扫描开始时，生成高电平信号，然后C_px列扫描时钟信号持续半个像元周期后，变为低电平信号；持续半个像元周期后，重新变为高电平信号，形成周期性的时钟信号；一直到列像元个数扫描完成后，持续变为低电平被截断；直到新的一列的起始开始，重复生成时钟信号；一直持续到设定的测试阈值次数结束；

S-E，根据S-A至S-D的设定条件，发送测试信号，测试信号持续低电平信号，然后在测试的行、列对应像元处，输出高电平，持续一个像元周期时间，而后变为低电平，一直持续到设定的测试像元次数结束。