[发明专利]一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法有效

专利信息
申请号: 201810568627.5 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN110568501B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 王保华;陆建林;李浩;宋振响;左宗鑫;王苗;刘娅昭 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G01V1/48 分类号: G01V1/48;G01V1/50
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;何娇
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 地层 中烃源岩 纵向 非均质 特征 定量 表征 方法
【权利要求书】:

1.一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于,包括以下步骤:

确定输入参数数据;

确定目标地层中烃源岩的纵向单元数目和纵向单元属性;

确定目标地层中烃源岩的等效分布指数和分散系数;

根据烃源岩的等效分布指数,确定烃源岩在目标地层纵向的分布位置,根据烃源岩的分散系数,确定烃源岩在目标地层纵向的离散程度;

其中,目标地层中烃源岩的等效分布指数指烃源岩在目标地层中纵向平均分布位置,定量反应烃源岩在目标地层中纵向分布;

目标地层中烃源岩的分散系数指目标地层中烃源岩的分散距离与理论上烃源岩分散距离的极大值、极小值之差的比值,定量反应烃源岩纵向分布的离散程度;

确定目标地层中烃源岩的分散距离所依据的公式为:

式中,R为目标地层中烃源岩的分散距离,Ki为烃源岩中第i单元的加权参数,n为烃源岩的纵向单元数目,Hi为烃源岩中第i单元的底部埋深,H为目标地层中烃源岩的等效埋深。

2.根据权利要求1所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;确定整个目标区域所有目标地层中烃源岩的等效分布指数和分散系数的平面分布图。

3.根据权利要求2所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;根据沉积相资料,确定沉积物源主方向,采用克里金插值算法确定整个目标区域所有目标地层中烃源岩的等效分布指数和分散系数的平面分布图,克里金的主方向为沉积物源主方向。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;输入参数数据包括目标地层和烃源岩不同深度的岩性、孔隙度、密度和有机碳数据体。

5.根据权利要求4所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;利用目标地层的地震数据进行地震地质反演后得到目标地层和烃源岩不同深度的岩性、密度、孔隙度和有机碳数据体;

或者利用目标地层的钻井、地震和构造层位数据,通过空间插值方式得到目标地层和烃源岩不同深度的岩性、密度、孔隙度和有机碳数据体;

或者利用钻井数据中的录井数据确定目标地层和烃源岩不同深度的岩性,并利用钻井数据中的测井数据确定目标地层不同深度的密度、孔隙度和有机碳数据体。

6.根据权利要求1~3中任一项所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;根据输入参数数据的采样率,确定目标地层的纵向步长的极小值,对目标地层的纵向位置进行单元划分。

7.根据权利要求6所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;确定目标地层纵向单元中有机碳大于烃源岩有机碳下限值的泥岩单元为烃源岩单元,并确定烃源岩的纵向单元数目;烃源岩有机碳的下限值为5%。

8.根据权利要求1~3中任一项所述的一种地层中烃源岩纵向非均质特征的定量表征方法,其特征在于;确定目标地层中烃源岩的纵向单元属性值包括烃源岩纵向单元的深度、密度、孔隙度和有机碳数据。

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