[发明专利]一种基于双目测距算法的光轴平行度校正方法

权利要求书

1.一种基于双目测距算法的光轴平行度校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、将待校正双路光学系统的两个光路分别固定于调整台架上；

步骤2、对特征目标I进行图像采集，获得特征目标I在左、右视场中的图像分别为左视图像A、右视图像B；

步骤3、根据左视图像A、右视图像B对所述调整台架进行调节，使得所述待校正双路光学系统的两个光轴水平共面；

步骤4、利用步骤3调整后的待校正双路光学系统对特征目标I进行图像采集，获得特征目标I在左、右视场中的图像分别为左视图像C、右视图像D；

步骤5、利用双目测距算法对左视图像C、右视图像D进行处理，获得特征目标I在左视图像C、右视图像D中的实际水平视差Δx₁；

步骤6、对特征目标I进行测距，获得特征目标I的实际距离L；利用双目测距算法求取特征目标I在所述待校正双路光学系统两个光轴完全平行时左视图像E、右视图像F中的理想水平视差Δx；

步骤7、判断步骤5获得的实际水平视差Δx₁与步骤6获得的理想水平视差Δx是否存在偏差，若存在偏差，则执行步骤8；否则结束待校正双路光学系统光轴平行度校正；

步骤8、对所述待校正双路光学系统中两个光路的光轴进行调整，直至实际水平视差Δx₁与理想水平视差Δx一致，完成待校正双路光学系统光轴平行度校正。

2.根据权利要求1所述的基于双目测距算法的光轴平行度校正方法，其特征在于，步骤1中所述调整台架包括光学平台(1)、角度调节旋钮(2)、光学镜架(3)、垂直调节螺杆(4)、五维调节台(5)、水平调节螺杆(6)、精密升降细杆(7)；

所述光学平台(1)的上方并排设置两个五维调节台(5)，每个五维调节台上均设置光学镜架(3)，每个光学镜架上均设置对应的光学系统；其中每个五维调节台上还装有角度调节旋钮(2)、垂直调节螺杆(4)和水平调节螺杆(6)；光学平台(1)的下方设置用于调节其高度的精密升降细杆(7)。

3.根据权利要求1所述的基于双目测距算法的光轴平行度校正方法，其特征在于，步骤3所述根据左视图像A、右视图像B对所述调整台架进行调节，使得所述待校正双路光学系统的两个光轴水平共面，具体为：

步骤3-1、利用匹配算法求取左视图像A、右视图像B匹配点的坐标值分别为(x₁,y₁)、(x₂,y₂)；其中匹配算法具体采用的是基于灰度互相关的匹配算法；

步骤3-2、根据y₁、y₂的相对偏差调节调整台架直至满足y₁＝y₂，从而使所述待校正双路光学系统的两个光轴水平共面。

4.根据权利要求3所述的基于双目测距算法的光轴平行度校正方法，其特征在于，步骤3-1具体为：

步骤3-1-1、在左视图像A中选取匹配目标模板T(m,n)，记录匹配目标模板左上角的坐标并将其作为左视图像A中匹配点的坐标值(x₁,y₁)；其中，m,n分别为所选匹配目标模板的边长尺寸；

步骤3-1-2、将步骤3-1-1中的匹配目标模板在右视图像B中移动，每一次移动时匹配目标模板覆盖右视图像B的区域子图为S^i,j(m,n)；其中，i,j分别为区域子图左上角像素点的横、纵坐标；

步骤3-1-3、求取步骤3-1-1中匹配目标模板T(m,n)与步骤3-1-2中区域子图S^i,j(m,n)的相似度；

步骤3-1-4、将步骤3-1-3相似度极大值对应的匹配目标模板的中心坐标作为右视图像B中匹配点的坐标值(x₂,y₂)。