[发明专利]太赫兹测试样品装置

权利要求书

1.一种太赫兹测试样品装置，其特征在于，包括：

第一半椭球罩，所述第一半椭球罩在长轴方向具有第一开口和第二开口，所述第一开口用于与太赫兹发射装置连接；

第二半椭球罩，所述第二半椭球罩在长轴方向具有与所述第二开口尺寸匹配的第三开口，在所述第三开口附近还具有第一孔洞和第二孔洞，所述第二半椭球罩与所述第一半椭球罩在所述第三开口与所述第二开口所在处可拆卸连接，所述第二半椭球罩与所述第一半椭球罩的内表面均有镀金层；

样品盛放装置，所述样品盛放装置设置于所述第二半椭球罩的所述第一孔洞所在处的内侧且盛放样品时，样品与所述第一开口相对；

进气装置，所述进气装置设置于所述第二半椭球罩的所述第二孔洞所在处的外侧且进气时的气体流向朝向样品所在处。

2.根据权利要求1所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述第一孔洞和所述第二孔洞位于所述第二半椭球罩的同一截面圆，所述第一孔洞与圆心的连线、所述第二孔洞与圆心的连线呈90°夹角。

3.根据权利要求1所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述样品盛放装置包括基座、支撑柱和样品座，所述基座与所述第二半椭球罩连接，所述样品座通过所述支撑柱与所述基座连接，所述样品盛放装置具有贯穿所述基座、所述支撑柱以及所述样品座的中空通道，所述中空通道用于让检测装置检测样品性能。

4.根据权利要求3所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述基座和/或所述样品座的截面呈方形或者圆形。

5.根据权利要求3所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述支撑柱为圆柱或者棱柱。

6.根据权利要求3所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述样品座可转动地设置于所述支撑柱，所述样品盛放装置还包括周设于所述样品座的扇叶，所述进气装置能够吹拂所述扇叶且使得所述样品座转动。

7.根据权利要求1所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述进气装置包括气管装置和密封连接件，所述气管装置用于与供气气源连接，所述气管装置通过所述密封连接件与所述第二半椭球罩连接且用于向样品吹气。

8.根据权利要求7所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述进气装置还包括副气管，所述副气管位于所述气管装置内且用于与供气气源连接，所述副气管的气体流速大于所述气管装置的气体流速，所述样品盛放装置包括基座、支撑柱、样品座和扇叶，所述基座与所述第二半椭球罩连接，所述样品座通过所述支撑柱与所述基座连接，所述扇叶周设于所述样品座，所述副气管用于吹拂所述扇叶且使得所述样品座在所述支撑柱转动。

9.根据权利要求1、7或8所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述进气装置用于吹入惰性气体。

10.根据权利要求1所述的太赫兹测试样品装置，其特征在于，所述第一半椭球罩的所述第一开口的直径为15mm，所述第二开口的直径为104.5mm，沿长轴方向的半椭圆形截面的半长轴为96mm。