[发明专利]一种校正二极排列非无穷远点影响的方法有效
申请号: | 201810571288.6 | 申请日: | 2018-06-06 |
公开(公告)号: | CN109001824B | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 刘春明;郭振威;程云涛;唐冬春;李香花;柳卓;赵于前 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无穷远 二极 勘探数据 校正 供电点 电法勘探 勘探效果 勘探效率 校正参数 替代 实测 测量 勘探 | ||
1.一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其具体步骤如下:
a)在勘探区周边布设一个无穷远供电点B、第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N,按照常规二极排列方式布置供电点A和测点M;
b)采用电法发送机通过无穷远供电点B与第一个非无穷远点C供电,采用电法接收机测量第二个非无穷远点N与测点M的电位差,并求取视电阻率的第一个校正参数f1;
c)采用电法发送机通过无穷远供电点B与第二个非无穷远点N供电,采用电法接收机测量第一个非无穷远点C与供电点A的电位差,并求取视电阻率的第二个校正参数f2;
d)采用电法发送机通过供电点A与第一个非无穷远点C供电,采用电法接收机测量第二个非无穷远点N与测点M的电位差UMN,按照常规的把第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N分别当做无穷远供电点和无穷远测点的二极排列的视电阻率公式计算视电阻率ρAM,其中AM表示供电点A到测点M之间的距离,单位为米;UMN为第二个非无穷远点N与测点M的电位差,单位为毫伏;IA为供电点A通过的电流,单位为毫安;
e)把步骤d)中获得的视电阻率ρAM利用第一个校正参数f1和第二个校正参数f2采用公式ρJ=ρAM+f1+f2进行校正,其中ρJ为校正了第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N影响后的反应测点M下的视电阻率;从而获得校正了第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N影响的视电阻率结果。
2.如权利要求1所述的一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其特征在于:视电阻率的第一个校正参数f1的公式为其中ρC→MN表示当采用无穷远供电点B和第一个非无穷远点C供电时,在测点M和第二个非无穷远点N之间测量的电位差换算的视电阻率,单位为欧姆米;KCMN为第一个非无穷远点C与测点M和第二个非无穷远点N之间的装置系数,其中CM和CN分别为第一个非无穷远点C与测点M的距离和第一个非无穷远点C与第二个非无穷远点N的距离,单位为米;KAM=2π·AM,其中AM表示供电点A到测点M之间的距离,单位为米。
3.如权利要求1所述的一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其特征在于:视电阻率的第二个校正参数f2的公式为其中ρN→AC表示当采用无穷远供电点B和第二个非无穷远点N供电时,在供电点A和第一个非无穷远点C之间测量的电位差换算的视电阻率,单位为欧姆米;KNAC为第二个非无穷远点N与供电点A和第一个非无穷远点C的装置系数,其中NA和NC分别为第二个非无穷远点N与供电点A的距离和第一个非无穷远点C与第二个非无穷远点N的距离,单位为米;KAM=2π·AM,其中AM表示供电点A到测点M之间的距离,单位为米。
4.如权利要求1所述的一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其特征在于:第一个非无穷远点C与第二个非无穷远点N的距离不少于供电点A与测点M之间最长距离的两倍。
5.如权利要求1所述的一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其特征在于:第一个非无穷远点C与第二个非无穷远点N尽量布置在测线的垂直方向,且分别位于测线的不同侧。
6.如权利要求1所述的一种校正二极排列非无穷远点影响的方法,其特征在于:无穷远供电点B尽量布置在测线的垂直方向,且无穷远供电点B到测点M的距离不小于供电点A与测点M之间最长距离的三倍。
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