[发明专利]一种防伪标签及该防伪标签的生成技术在审

专利信息
申请号: 201810572367.9 申请日: 2018-06-06
公开(公告)号: CN108766205A 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 周全;邹朋;许远飞 申请(专利权)人: 天通(嘉兴)新材料有限公司
主分类号: G09F3/02 分类号: G09F3/02
代理公司: 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 代理人: 程开生
地址: 314000*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 防伪标签 膜层 标签识别 镀膜技术 防伪成本 仿冒 遮挡 应用 制定
【权利要求书】:

1.一种防伪标签,其特征在于,所述防伪标签为一具有一定形状的膜层,膜层依次包括有第一TiO2层、第一SiO2层、第二TiO2层、第二SiO2层、第三TiO2层、第三SiO2层、第四TiO2层、第四SiO2层、第五TiO2层、第五SiO2层、第六TiO2层、第六SiO2层、第七TiO2层、第七SiO2层、第八TiO2层、第八SiO2层、第九TiO2层、第九SiO2层、第十TiO2层、第十SiO2层、第十一TiO2层、第十一SiO2层、第十二TiO2层、第十二SiO2层、第十三TiO2层、第十三SiO2层。

2.如权利要求1所述的防伪标签,其特征在于,所述第一TiO2层的厚度为8.68纳米;第一SiO2层的厚度为56.21纳米;第二TiO2层的厚度为24.43纳米;第二SiO2层的厚度为43.19纳米;第三TiO2层的厚度为33.73纳米;第三SiO2层的厚度为48.33纳米;第四TiO2层的厚度为28.45纳米;第四SiO2层的厚度为55.53纳米;第五TiO2层的厚度为31.75纳米;第五SiO2层的厚度为49.10纳米;第六TiO2层的厚度为31.74纳米;第六SiO2层的厚度为56.56纳米;第七TiO2层的厚度为30.72纳米;第七SiO2层的厚度为50.37纳米;第八TiO2层的厚度为32.71纳米;第八SiO2层的厚度为58.13纳米;第九TiO2层的厚度为28.69纳米;第九SiO2层的厚度为49.62纳米;第十TiO2层的厚度为35.78纳米;第十SiO2层的厚度为57.19纳米;第十一TiO2层的厚度为19.73纳米;第十一SiO2层的厚度为65.87纳米;第十二TiO2层的厚度为33.19纳米;第十二SiO2层的厚度为9.68纳米;第十三TiO2层的厚度为68.61纳米;第十三SiO2层的厚度为84.96纳米。

3.一种如权利要求1所述防伪标签的生成技术,其特征在于,利用带孔的遮挡物盖在产品上,利用真空蒸发镀膜技术,对着孔依次镀第一TiO2层、第一SiO2层、第二TiO2层、第二SiO2层、第三TiO2层、第三SiO2层、第四TiO2层、第四SiO2层、第五TiO2层、第五SiO2层、第六TiO2层、第六SiO2层、第七TiO2层、第七SiO2层、第八TiO2层、第八SiO2层、第九TiO2层、第九SiO2层、第十TiO2层、第十SiO2层、第十一TiO2层、第十一SiO2层、第十二TiO2层、第十二SiO2层、第十三TiO2层、第十三SiO2层,在产品上形成与孔的形状相同的膜层,去除遮挡物,完成产品上防伪标签的生成。

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