[发明专利]一种独立介质的冗余阵列

权利要求书

1.一种独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述冗余阵列包括M个独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}和至少一个校验介质，所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}与所述校验介质组成一个介质集合，所述介质集合中的介质之间互不关联。

2.根据权利要求1所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述校验介质有且仅有一个，所述校验介质为D_p，所述介质集合包括M+1个介质，每一个介质{D_i,0≤i≤M-1,p}与介质集合中的其他介质均互不关联。

3.根据权利要求2所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}包括如下所述的N个相同大小的数据块：

所述D_p包括如下所示的N个相同大小的数据块：

所述冗余阵列如下所示：

4.根据权利要求3所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，将所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}上顺序位置相同的数据块{d_{i j},0≤i≤M-1,0≤j≤N-1}进行异或运算，得出所述D_p上相应位置的数据块{d_{p j},0≤j≤N-1}，计算公式如下：

5.根据权利要求2-4中任意一项权利要求所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述冗余阵列允许缺损任意一个介质{D_i,0≤i≤M-1,p}，当其中一个介质{D_i,0≤i≤M-1,p}缺损时，将剩余介质中的数据块{d_{k j},0≤k≤M-1,p,且k≠i,0≤j≤N-1}进行异或运算，恢复缺损的介质上的全部数据。

6.根据权利要求1所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述校验介质为两个，分别为D_p和D_q，所述介质集合包括M+2个介质，每一个介质{D_i,0≤i≤M-1,p,q}与介质集合中的其他介质均互不关联。

7.根据权利要求6所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，

所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}包括如下所示的N个相同大小的数据块：

所述D_p包括如下所示的N个相同大小的数据块：

所述D_q包括如下所示的N个相同大小的数据块：

所述冗余阵列如下所示：

8.根据权利要求7所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，

将所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}上顺序位置相同的数据块{d_{i j},0≤i≤M-1,0≤j≤N-1}进行异或运算，得出所述D_p上相应位置的数据块{d_{p j},0≤j≤N-1}，计算公式如下：

将所述独立数据介质{D_i,0≤i≤M-1}上顺序位置相同的数据块{d_{i j},0≤i≤M-1,0≤j≤N-1}与参数g^k相乘后进行异或运算，得出所述D_q上相应位置的数据块{d_{q j},0≤j≤N-1}，计算公式如下：

其中，g^k,0≤k≤M-1，为数据块的线性反馈移位寄存器运算。

9.根据权利要求6-8中任意一项权利要求所述的独立介质的冗余阵列，其特征在于，所述冗余阵列最多允许缺损任意两个介质{D_i,0≤i≤M-1,p,q}和{D_j,0≤j≤M-1,p,q}，其中i≠j；

当D_i和D_j缺损时，使用剩余介质中的数据恢复D_i和D_j，具体为：

S1、根据剩余介质中的数据，计算出系数A和B，计算公式如下：

，

其中，g^k,0≤k≤M-1，为数据块的线性反馈移位寄存器运算；

S2、根据系数A和B计算出D_j，计算公式如下：

S3、将剩余介质中的数据和D_j进行异或运算得出D_i。