[发明专利]金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法有效

专利信息
申请号: 201810582196.8 申请日: 2018-06-07
公开(公告)号: CN109001791B 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 朱嘉琦;代兵;王伟华;刘康;韩杰才 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T7/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 贾泽纯
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 金刚石 位置 灵敏 探测器 定位 方法
【权利要求书】:

1.金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于该方法是按下列步骤实现:

一、采用磁控溅射法在单晶CVD金刚石表面镀上4个圆心角为90°扇形结构的Au电极,得到镀有金电极的金刚石,其中4个Au电极形成圆形,4个Au电极之间的间隙为0.2~1mm,4个Au电极的中心作为原点并形成X轴和Y轴,处在X轴正方向和Y轴正方向的Au电极为电极B,沿着逆时针方向依次为电极A、电极C和电极D;

然后将镀有金电极的金刚石固定在焊盘上,四个金电极分别用导线与焊盘上的四个条形电极连接,得到具有四电极的二维平面结构的金刚石位置灵敏探测器;

二、采用半导体特性分析系统,在无光辐照的条件下,将探针连接到电极A和电极B上,测试得到正向偏压和反向偏压大小为U下的暗电流;

三、采用复色光或者单色光照射金电极,沿着X轴方向改变光束位置,分别测试得到正向偏压和反向偏压大小为U下不同位置的光电流;

四、对步骤三得到的光电流数据进行处理:

a、设I+U为一定位置下正向偏压大小为U下复色光或单色光下的光电流,设I-U为一定位置下反向偏压大小为U下复色光或单色光下的光电流,X方向上电流差异为ΔIX=I+U+I-U

b、根据X方向上光电流数据,作出ΔIX与X位置的变化关系曲线图,曲线图中ΔIX与X位置呈现线性关系的距离范围为有效距离范围,线性拟合后求导得出横向位置定位的计算公式为:

五、将探针连接到电极A和电极C上,采用复色光或者单色光照射金电极,沿着Y轴方向改变光束位置,分别测试得到正向偏压和反向偏压大小为U下不同位置的光电流;

六、对步骤五得到的光电流数据进行处理:

c、设I+U为一定位置下正向偏压大小为U下复色光或单色光下的光电流,设I-U为一定位置下反向偏压大小为U下复色光或单色光下的光电流,Y方向上电流差异为ΔIY=I+U+I-U

d、根据Y方向上光电流数据,作出ΔIY与Y位置的变化关系曲线图,曲线图中ΔIY与Y位置呈现线性关系的距离范围为有效距离范围,线性拟合后求导得出纵向位置定位公式为:

2.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于步骤一中单晶CVD金刚石的厚度为0.5mm。

3.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于步骤一中采用磁控溅射法在单晶CVD金刚石表面镀上4个圆心角为90°扇形结构的Au电极的过程如下:

将Au靶安装至磁控溅射靶上,将金刚石置于真空磁控溅射镀膜系统内的加热台上,启动真空系统将真空仓内抽成真空,使得真空度为4.5×10-4Pa,在Ar气氛的保护下,控制Ar气流量为20sccm,控制溅射功率为40W进行沉积金电极。

4.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于步骤一中Au电极的厚度为25~40nm。

5.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于4个Au电极形成直径为2mm的圆形。

6.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于步骤三中偏压U为-100V~100V。

7.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于步骤三采用OCEAN OPTICS公司生产的型号为DH2000的激光器作为复合光源。

8.根据权利要求1所述的金刚石位置灵敏探测器的束流位置定位方法,其特征在于当采用复色光照射金电极,光斑直径为1~2mm,偏压U为-100V~100V,步骤四中的有效距离范围为-1.0mmx1.0mm。

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