[发明专利]一种环抛机盘面测量及数据处理系统及其工作方法在审
申请号: | 201810583567.4 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN109048664A | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
发明(设计)人: | 金洙吉;朱祥龙;马进;康仁科;董志刚;郭江 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | B24B49/04 | 分类号: | B24B49/04;B24B49/12;B24B29/02 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 李洪福 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 盘面 数据处理系统 工控机 环抛机 测量参数 应变片式 测量 测头 步进电机驱动器 动作控制单元 非接触式测量 前端用户界面 伺服控制单元 传感器阵列 接触式测量 运动控制卡 直线光栅尺 步进电机 测量数据 传输装置 二次开发 光线散射 光学测量 即时显示 失真问题 实时显示 输入单元 通用函数 子函数 板卡 面型 湿润 优化 配合 | ||
1.一种环抛机盘面测量及数据处理系统,其特征在于:包括电源(1)、工控机(2)、运动控制卡(3)、步进电机驱动器(4)、直线光栅尺(5)、步进电机(6)、应变片式测头(7)和HSI传输装置(8),所述的电源(1)与工控机(2)连接,所述的运动控制卡(3)分别与工控机(2)、步进电机驱动器(4)、直线光栅尺(5)和HSI传输装置(8)连接;所述的步进电机驱动器(4)与步进电机(6)连接,所述的HSI传输装置(8)与应变片式测头(7)连接;
所述的电源(1)给工控机(2)供电,工控机(2)作为上位机向运动控制卡(3)输出指令,控制步进电机驱动器(4)和HSI传输装置(8),进而分别控制步进电机(6)和应变片式测头(7);直线光栅尺(5)放置在环抛机应变片式测头(7)单元的不动结构上,将应变片式测头(7)移动的相对位置信号传递至运动控制卡(3)中,达到准确反馈测量数据的目的;
所述的工控机(2)安装的数据处理系统基于LabVIEW平台开发,数据处理系统包括板卡伺服控制单元、测量参数输入单元、测量动作控制单元、测量参数显示单元和盘面面型实时显示单元;
所述的板卡伺服控制单元控制数据采集卡和步进电机(6)伺服驱动器的开关;所述的测量参数输入单元接受前面板输入的测量参数,传递至工控机(2)做进一步信号数据处理后、经步进电机驱动器(4)传递至步进电机(6)完成数据传输;所述的测量动作控制单元控制测量动作的开始、停止及应变片式测头(7)的回零;所述的测量参数显示单元实时显示单次测量过程的电机位置、测量次数和平面度;所述的盘面面型实时显示单元实时显示经工控机(2)处理后的盘面面型数据,便于操作人员根据图像判断是否需要进行盘面修整。
2.一种基于环抛机盘面测量及数据处理系统的工作方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一:按下板卡伺服控制单元中的打开板卡及伺服打开按钮,数据处理系统按预先设置好的LabVIEW事件结构,通过布尔数据传输的方式和对应的事件结构分支匹配,打开运动控制卡(3)和步进电机驱动器(4),步进电机(6)及应变片式测头(7)处于待机状态;
步骤二:在测量参数输入单元中输入测量相关参数,LabVIEW程序通过for循环结构设置有限次的测量动作并将其储存在数据流中;
步骤三:按下测量动作控制单元中的开始测量按钮,通过研华API通用函数框架和LabVIEW子函数相结合的二次开发程序,控制步进电机(6)带动应变片式测头(7)进行接触式测量;当应变片式测头(7)接触到盘面时触发测头的位置锁存功能,输出直线光栅尺(5)的位置信号;与此同时,将测量数据实时显示到测量参数显示单元中;
步骤四:按下测量动作控制单元中的绘制曲线按钮,LabVIEW程序在for循环结构中对每个测量数据进行基于统计学原理的判别,利用移位寄存器和for循环自动剔除粗大数据,将处理后的数据传入二维数组,显示在盘面面型实时显示单元中;
步骤五:测量动作结束后按下测量动作控制单元中的回零按钮,通过研华API通用函数框架和LabVIEW子函数相结合的二次开发程序控制步进电机(6)带动应变片式测头(7)回到测量零点;若在测量过程中出现任何意外情况,立即按下板卡伺服控制单元中的停止按钮,LabVIEW程序将立即命令所有电机停止工作,锁存当前工作状态。
3.根据权利要求2所述的一种基于环抛机盘面测量及数据处理系统的工作方法,其特征在于:步骤三中,当应变片式测头(7)接触到盘面时,立即触发位置锁存功能,输出直线光栅尺(5)读数头的位置信号,经LabVIEW程序处理后逐个剔除粗大数据,将处理后的数据输入至二维数组中。
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