[发明专利]一种自动恢复电子校准件定标数据的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201810583689.3 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN109001662B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 李明太;庄志远;梁胜利;赵立军;马景芳;李树彪;刘丹;郭永瑞;袁国平 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 种艳丽
地址: 266555 山东省青*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 恢复 电子 校准 定标 数据 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种自动恢复电子校准件定标数据的装置,其特征在于:包括矢量网络分析仪和电子校准件,电子校准件包括ARM微处理器、微波模块、NAND FLASH 1、NAND FLASH 2、稳压限幅电路、第一开关K2和第二开关Button1;ARM微处理器通过USB接插件与矢量网络分析仪连接;

矢量网络分析仪,被配置为用于通过USB接插件与电子校准件实现通信,从而完成对电子校准件的标准控制、校准件信息读取、定标数据写入、备份与恢复功能;

ARM微处理器,被配置为用于存储电子校准件的型号信息、端口信息和适用的频率范围信息;通过USB接口接收定标数据发并将定标数据写入NAND FLASH 1和NAND FLASH 2,从而完成定标;

NAND FLASH 1,被配置为用于存储电子校准件的定标数据,作为默认使用的存储芯片;

NAND FLASH 2,被配置为用于实现对电子校准件的定标数据的备份;

稳压限幅电路,被配置为用于对ARM微处理器中的USB接口模块的输入电压进行幅度限制;

微波模块,被配置为用于接收ARM微处理器发出的控制信号,实现不同阻抗状态的电子标准;其包括MMIC芯片,MMIC芯片根据ARM微处理器发送过来的控制信号控制MMIC芯片内部的开关和电路导通状态,从而实现不同阻抗状态的电子标准;

第一开关K2,被配置为用于控制NAND FLASH 2的片选信号是否选通;

第二开关Button1,被配置为电子校准件用户控制开关,用户通过控制Button1来决定电子校准件是否能够使用NAND FLASH 2中的定标数据;

第二开关Button1有两种状态,即处于位置1或位置2;当第二开关Button1置于位置1时,则K1_input为0,表示电子校准件能够使用NAND FLASH 1数据;当第二开关Button1置于位置2时,则K1_input为1,表示电子校准件能够使用NAND FLASH2数据。

2.一种自动恢复电子校准件定标数据的方法,其特征在于:采用如权利要求1所述的自动恢复电子校准件定标数据的装置,包括如下步骤:

步骤1:当电子校准件用户发现电子校准件的校准功能不正确时,但是依然能够读取电子校准件的信号信息时,说明NAND FLASH 1的定标数据损坏或被擦除;

步骤2:用户将电子校准件的第二开关Button1置于位置2处,并在矢量网络分析仪主机程序校准模块的软件界面上点击自动恢复定标数据,ARM微处理器会自动将NAND FLASH 2中的定标数据读取后再写入NAND FLASH 1中;

步骤3:10秒钟后,用户将电子校准件的第二开关Button1置于位置1处,再使用电子校准件进行校准;判断电子校准件的校准功能是否正确;

若:判断结果是电子校准件的校准功能正确,则自动恢复定标数据成功;

或判断结果是电子校准件的校准功能不正确,说明NAND FLASH 1已损坏,则将电子校准件的第二开关Button1置于位置2处,使用NAND FLASH 2的定标数据完成校准。

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