[发明专利]磁性粉、磁性粉的制造方法及磁记录介质

说明书

本发明提供一种磁特性良好的磁性粉、磁特性良好的磁性粉的制造方法及信号衰减得到抑制的耐久性良好的磁记录介质。所述磁性粉包含选自ε‑Fe₂O₃及式(1)所表示的化合物中的ε型氧化铁系化合物，所述磁性粉为平均粒径8nm～25nm的磁性粉，将用施加的磁场H对磁化M进行二阶微分的式(I)的值成为零的磁场设为Hc’，将在磁场‑磁化曲线中磁化成为零的磁场的值设为Hc时，Hc相对于Hc’的值为0.6以上且1.0以下，且Hc’满足下述式(II)，所述磁化M是由在规定的条件下进行测定而得到的磁场‑磁化曲线求出的。式(1)中，A表示Fe以外的金属元素，a满足0＜a＜2。d²M/dH²式(I)；119kA/m＜Hc’＜2380kA/m式(II)；ε‑A_aFe_2‑aO₃(1)。

技术领域

本发明涉及一种磁性粉、磁性粉的制造方法及磁记录介质。

背景技术

作为磁记录介质中所使用的磁性粉，广泛使用六方晶钡铁氧体粉末等。六方晶钡铁氧体粉末为板状且能够实现高填充率。但是，近年来，随着磁记录介质的高性能化，要求进一步的高性能的磁性粉。

例如，ε-Fe₂O₃的各向异性磁场(以下，有时称为Hk)大，即使在使用更小的粒子的情况下也能够保持磁化，因此作为下一代的磁性材料而受到瞩目，提出有包含ε-Fe₂O₃且粒度分布得到改善的磁性粉(参考专利文献1)。

关于包含ε-Fe₂O₃的磁性粉，作为对磁记录特性没有帮助的微细粒子的含量少、矫顽力分布窄、适于磁记录介质的高记录密度化的磁性粉，提出有如下磁性粒子：对于测定相对于在特定的条件下施加的磁场的磁性粉的磁化强度而得到的磁场-磁化曲线，曲线的零磁场中的纵轴的截距的强度相对于在对该曲线进行数值微分而得到的微分曲线中出现在高磁场侧的峰强度的比率为0.7以下的平均粒径为10nm以上且30nm以下的磁性粒子(例如，参考专利文献2)；以及，在专利文献2的条件的基础上，在2θ为27.2°以上且29.7°以下进行X射线衍射测定时扣除背景的(background)衍射强度的最大值相对于在2θ为42°以上且44°以下进行X射线衍射测定时扣除背景的衍射强度的最大值的比率为0.1以下的磁性粒子(例如，参考专利文献3)。

专利文献1：日本特开2017-24981号公报

专利文献2：日本特开2016-174135号公报

专利文献3：日本特开2016-130208号公报

但是，得知将仅仅缩窄包含ε-Fe₂O₃的磁性粉的粒度分布或者将微细粒子的磁特性调整在专利文献2或专利文献3中所记载的范围内的磁性粒子用于磁记录介质时，因信号衰减无法充分得到重复再生时的耐久性。认为这是由于对磁化没有帮助的粒子的控制并不仅仅是粒子尺寸控制的问题，而是在磁性粉的前体的物性方面存在主要原因。

并且，在专利文献2或专利文献3中所记载的发明中，作为控制磁性粉的物性值的方法，进行在制作磁性粉的前体时通过超滤来去除不必要的离子。但是，根据本发明人等的研究，着眼于晶体结构，其结果判明了如下：使用包含3价的铁离子的化合物的水溶液，根据形成包含铁的金属粉的工序中的条件而形成的磁性粉的前体中，金属粉的非晶质部分变多；以及在形成磁性粉的前体之后，即使进行不必要的离子的去除，由于已形成的磁性粉的前体包含非晶质成分，因此由非晶质部分产生的微细粒子的生成量最终会增加，有可能对磁特性带来影响。