[发明专利]基板处理设备在审

专利信息
申请号: 201810588738.2 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN109037018A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 文商珉 申请(专利权)人: 细美事有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京市中伦律师事务所 11410 代理人: 杨黎峰;钟锦舜
地址: 韩国忠*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 内环 基板处理设备 卡盘 驱动器 环组件 基板 供应工艺气体 处理空间 上下移动 中支撑 腔室 支撑
【说明书】:

公开了一种基板处理设备。该基板处理设备包括:卡盘,其被构造为在被供应工艺气体的腔室的处理空间中支撑基板;以及围绕卡盘的环组件,该环组件包括内环、围绕该内环定位的外环以及驱动器,内环被定位成使得内环的一部分围绕由卡盘支撑的基板的外侧,驱动器被构造成使外环上下移动。

技术领域

本文描述的本发明构思的实施例涉及一种基板处理设备,并且更具体地涉及一种通过使用等离子体处理基板的设备。

背景技术

为了制造半导体器件,通过执行各种工艺,诸如光刻、蚀刻、灰化、离子注入、薄膜沉积和清洁,在基板上形成期望的图案。其中,蚀刻工艺是去除在基板上形成的膜的选定加热区域的工艺,并且包括湿法蚀刻和干法蚀刻。

对于干法蚀刻,使用一种使用等离子体的蚀刻设备。通常,为了形成等离子体,在腔室的内部空间中形成电磁场,并且电磁场将提供到腔室中的工艺气体激发成等离子体状态。

等离子体是指包括离子、电子和自由基的电离气态。等离子体通过非常高的温度、强电场或射频(RF)电磁场产生。在半导体器件制造工艺中,通过使用等离子体来执行蚀刻工艺。通过使等离子体中所包含的离子颗粒与基板碰撞来执行蚀刻工艺。

发明内容

本发明构思的实施例提供了可以有效地处理基板的基板处理设备。

本发明构思的实施例还提供一种基板处理设备,其可以使在其使用期间在基板周围形成的鞘流(sheath)和等离子体的界面变化最小化。

根据本发明构思的一个方面,提供了一种基板处理设备,该基板处理设备包括:卡盘,该卡盘用于在被供应工艺气体的腔室的处理空间中支撑基板;以及围绕卡盘的环组件,其中该环组件包括内环、围绕该内环定位的外环以及驱动器,该内环定位成使得内环的一部分围绕由卡盘支撑的基板的外侧,该驱动器使外环上下移动。

环组件还可以包括位于内环和外环之间的绝缘构件。

下绝缘构件可以联接到外环的下端。

内环相对于卡盘的相对位置可以是固定的。

内环和外环可以由导电材料形成。

基板处理设备还可以包括位于内环和卡盘之间的金属联接器,并且内环固定到联接器。

环组件还可以包括围绕外环定位的防护构件。

内环可以包括梯度部分,该梯度部分的内侧高于该梯度部分的外侧。

外环的内侧可以高于内环的外侧。

外环可以包括上突起,该上突起的上侧向内突出,并且上突起覆盖绝缘构件的竖直上侧。

内环可以包括下突起,其下侧向外突出,并且绝缘构件位于下突起上。

外环可以调节从工艺气体产生的等离子体与鞘流之间的界面。

绝缘构件可以防止在内环和外环之间产生电弧。

附图说明

通过参照附图详细描述本发明构思的示例性实施例,本发明构思的上述和其它目的和特征将变得显而易见。

图1是示出根据本发明构思的实施例的基板处理设备的视图;

图2至图4是示出根据第一实施例的环组件的视图;

图2和图3是示出根据基板处理设备的使用,在形成在环组件周围的鞘流与等离子体之间的界面变化的视图;

图4是示出外环升高的状态的视图;

图5是示出根据第二实施例的环组件的视图;

图6是示出根据图5的变型的环组件的视图;

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