[发明专利]一种用于极片宽度测试的标准物、制备方法及其应用方法

权利要求书

1.一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：包括聚脂类高分子薄膜(11)和涂覆于所述聚脂类高分子薄膜(11)走带面的若干段方形涂层(12)，每段所述涂层(12)的宽度D相同，且宽度D均为50mm~2000mm，每段所述涂层(12)的长度L均为50mm~1100mm，且多段所述涂层(12)的长度L呈递增或递减排布，相邻两段所述涂层(12)的长度相差0.1mm~2mm。

2.根据权利要求1所述的一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：所述聚脂类高分子薄膜(11)的厚度为1um~30um。

3.根据权利要求1所述的一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：所述涂层(12)的厚度为1um~10um。

4.根据权利要求3所述的一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：所述涂层(12)的厚度为6um。

5.根据权利要求1所述的一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：所述聚脂类高分子薄膜(11)为PET或Mylar膜。

6.根据权利要求1所述的一种用于极片宽度测试的标准物，其特征在于：所述涂层(12)为油墨、树脂类漆或光学油漆。

7.一种用于极片宽度测试的标准物的制备方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：根据测试需求对涂层(12)的尺寸进行标定，确定每段涂层(12)宽度D的尺寸；

S2：根据步骤S1标定的尺寸，在聚脂类高分子薄膜(11)涂覆至少10段宽度D相同、长度L呈递增或递减排布的涂层(12)；

S3：将执行完步骤S2的聚脂类高分子薄膜(11)制成卷料，得到用于极片宽度测试的标准物（1）。

8.根据权利要求7所述一种用于极片宽度测试的标准物的制备方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：首先，根据测试需求对涂层(12)的尺寸进行标定，确定每段涂层(12)的宽度D，其中D为50mm~2000mm；

S2：选取宽度为50mm~1100mm和长度为10m~500m的聚脂类高分子薄膜(11)，然后在聚脂类高分子薄膜(11)上涂覆10段以上长度L呈递增或递减排布且宽度D相同的涂层(12)，其中每段所述涂层(12)长度L均为50mm~1100mm、宽度D均为50mm~2000mm，相邻两段所述涂层(12)的长度相差0.1~2mm；

S3：将执行完步骤S2的聚脂类高分子薄膜(11)制成卷料，得到用于极片宽度测试的标准物（1）。

9.一种用于极片宽度测试的标准物的应用方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：标准物(1)上料、走带，同时启动CCD系统；

S2：CCD系统对标准物(1)的涂层(12)进行图像信息采集和宽度测量；

S3：标准物(1)进行多次、反复的走带，CCD系统自动计算每次测量标准物(1)宽度数据的错位值并根据MSA的计量要求，得出分析的结果；

S4：完成测试，收卷。

10.根据权利要求9所述的一种用于极片宽度测试的标准物的应用方法 ，其特征在于：包括以下步骤：

S1：把标准物(1)卷料放置于CCD的载物台上，然后进行标准物卷料走带，同时启动CCD系统；

S2：CCD系统对标准物(1)的10段以上的涂层(12)进行图像信息采集和测量每段涂层(12)的宽度信息；

S3：标准物(1)进行多次、反复的走带，CCD系统自动计算每次测量标准物(1)宽度数据的的错位值并根据MSA的计量要求，得出分析的结果；

S4：完成测试，标准物收卷。