[发明专利]一种物体体积的测量方法、装置、系统和可读存储介质

权利要求书

1.一种物体体积的测量方法，其特征在于，包括：

利用三维激光相机获取与待测物体的三维图像信息对应的三维数据；

处理所述三维数据以获得所述待测物体的体积参数；

依据所述体积参数计算所述待测物体的体积；

所述处理所述三维数据以获得所述待测物体的体积参数具体包括：

对所述三维数据进行滤波和聚类处理，得到聚类数据，并按照高度信息将所述聚类数据分离为与所述待测物体的上表面对应的第一聚类数据集和与所述待测物体的下表面对应的第二聚类数据集；

确定与所述第一聚类数据集对应的第一距离和与所述第二聚类数据集对应的第二距离，并计算所述第二距离与所述第一距离的差值，将所述差值作为所述待测物体的高度值；

将与所述第一距离对应的三维数据投影至X轴和Y轴构成的平面以形成底面图形，并基于所述底面图形确定底面积参数；

所述确定与所述第一聚类数据集对应的第一距离和与所述第二聚类数据集对应的第二距离具体包括：

对所述第一聚类数据集和所述第二聚类数据集进行高斯滤波；

计算滤波后的所述第一聚类数据集的第一平均值和滤波后的所述第二聚类数据集的第二平均值；

其中，所述第一平均值为所述第一距离的平均值，所述第二平均值为所述第二距离的平均值；

则对应的，所述计算所述第二距离与所述第一距离的差值，并将所述差值作为所述待测物体的高度值具体为：

计算所述第二平均值和所述第一平均值的平均差值，将所述平均差值作为所述待测物体的高度值；

所述将与所述第一距离对应的三维数据投影至X轴和Y轴构成的平面以形成底面图形，并基于所述底面图形确定底面积参数具体包括：

依据预设高度阈值过滤与所述第一距离对应的三维数据以获得投影数据，并将所述投影数据投影至所述X轴和所述Y轴构成的平面，形成所述底面图形；

对所述底面图形进行凸包处理，并获取所述底面图形的边角点坐标；

基于所述边角点坐标确定所述底面积参数。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述对所述三维数据进行滤波和聚类处理具体包括：

对所述三维数据进行滤波阈值为3σ的高斯滤波，得到滤波数据，其中，σ为标准差；

按照所述高度信息对所述滤波数据进行K-Means聚类，得到所述聚类数据。

3.根据权利要求1或2所述的测量方法，其特征在于，所述待测物体具体为长方体，则所述基于所述边角点坐标确定所述底面积参数具体包括：

确定所述边角点坐标中最大的X轴坐标值、最小的X轴坐标值、最大的Y轴坐标值和最小的Y轴坐标值；

计算所述最大的X轴坐标值与所述最小的X轴坐标值的差值，并作为所述待测物体底面的长度值；

计算所述最大的Y轴坐标值和所述最小的Y轴坐标值的差值，并作为所述待测物体底面的宽度值；

其中，所述底面积参数包括所述长度值和所述宽度值。