[发明专利]一种适用于多种规格晶振的测试系统

说明书

本发明公开了一种适用于多种规格晶振的测试系统，包括一个透明的可打开的密闭盒，盒内固定设置有一个测试基板以及可以插接在测试基板上的测试插板，当需要对待测晶振进行测试时，根据所述待测晶振的供电电压选择对应的所述测试插板，并根据所述待测晶振的尺寸规格适配插接在所述测试插板上，由此可以对待测晶振在盒体内加电测试，并且还可以用透明盖罩将待测晶振及测试插板盖入其中。本发明测试系统为多种规格的晶振测试提供了便携使用的测试手段，具有适应的晶振规格类型多、使用简单、成本低、测试环境稳定等优势。

技术领域

本发明属于晶振检测技术领域，特别是涉及一种适用于多种规格晶振的测试系统。

背景技术

晶振是晶体振荡器的简称，是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片)，在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件，该产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。因此，不同的晶振通常具有不同的规格，包括体积尺寸规格、供电电压规格等。

当对多种规格的晶振测试时，需要提供一个统一的测试系统，现有技术中的测试系统能够适用的晶振尺寸规格有限，能够满足的供电电压单一，并且体积大、重量重，携带和使用均不方便。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种适用于多种规格晶振的测试系统，解决现有技术中测试装置单一性、组件多、使用不便等问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是提供一种适用于多种规格晶振的测试系统，包括测试盒，所述测试盒为透明的可打开的密闭盒，包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述测试系统还包括测试基板和测试插板，所述测试基板固定设置在所述盒体内，所述测试基板上设置有共用的测试电路和测试插座，测试插板上设置有与所述测试插座相对应的测试插针组，当需要对待测晶振进行测试时，根据所述待测晶振的供电电压选择对应的所述测试插板，并根据所述待测晶振的尺寸规格适配插接在所述测试插板上，然后所述测试插板通过所述测试插针组对应插接在所述测试基板上的测试插座中，所述测试基板还包括向测试电路供电的供电插座以及向所述待测晶振供电后产生源信号的信号输出插座，所述盒体的侧壁对应开设有供电插座开口和信号输出插座开口，所述盒体内还包括在对待测晶振加电测试时用于将所述待测晶振及测试插板盖入其中的透明盖罩。

在本发明适用于多种规格晶振的测试系统的另一实施例中，所述测试电路包括电源滤波模块，外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路，其中第一路直通作为高电压通道，第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道；所述测试插座包括具有双排12插孔的第一测试插座、双排10插孔的第二测试插座和双排4插孔的第三测试插座，所述测试插板对应包括双排12插针的第一测试插针组、双排10插针的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组；所述第一测试插座包括与所述高电压通道的输出端电连接的高电压输入端，与所述低电压通道的输出端电连接的低电压输入端，与连接线性电源模块的输入端电连接的电压公共端；通过所述测试插板上对应的第一测试插针组将所述高电压输入端与所述电压公共端电连接，或者将所述低电压输入端与所述电压公共端电连接；所述线性电源模块对输入的电压进行线性分压得到插接在所述测试插板上的待测晶振的供电电压；所述外部直流电压为15V，所述电源滤波模块包括电源滤波芯片BNX025H01L，所述电源滤波芯片的电源输入端通过电源开关与所述外部直流电压的正极相连，在所述外部直流电压两端还设置有限幅二极管，在所述电源输入端和输入接地端之间还串接有发光二极管和限流电阻，当所述电源开关闭合后，所述发光二极管点亮，表示所述外部直流电压已经接入，所述电源滤波芯片的输出端向后一级输出经过稳压滤波的直流电压，三个输出接地端共地。