[发明专利]一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法

说明书

本发明是一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法，用于产品有激励测试的故障诊断。本方法获取描述测试与激励关联关系的矩阵ET、获得描述激励源与故障可达关系的矩阵FE，根据矩阵ET和FE，获得描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT₁；根据故障和激励测试的信号流关系，建立描述故障与激励测试可达关系的矩阵FT₂；通过矩阵FT₁与FT₂，得到描述故障与激励测试一阶相关性关系的矩阵D_e；建立描述故障与非激励测试一阶相关性关系的矩阵FT₃；将D_e、FT₃、ET通过合成计算，得到最后描述故障、测试、激励复合关系的矩阵D，根据D进行故障诊断。本发明方法降低了模型的复杂性和分析难度，有效支持包含激励测试的系统诊断。

技术领域

本发明属于测试性技术领域，具体涉及相关性理论下的考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法。

背景技术

故障-测试相关性矩阵，简称相关性矩阵或D矩阵，是被测对象的组成单元故障与测试相关性的一种表示形式，不仅可以用于产品的测试性分析，还可直接利用其进行故障诊断。在产品的故障与测试信息已知的情况下，利用功能框图和信号流程分析可得到产品的D矩阵。

在实际应用中，产品的测试通常包括两类：有激励测试(简称激励测试)和无激励测试。激励测试指在测试时必须施加激励信号才能得到有效测试结果，无激励测试指无须施加激励信号即可直接执行的测试。

如图1所示，为激励测试的基本原理图，在设备正常工作的情况下，以一定的方式向设备输入端输入一个模拟信号，对其作直通测试，以监视有无故障发生，具体流程如下：微型计算机发出激励信号给N个简单循环单元SRU(1)～SRU(N)，SRU(N)返回响应信号给微型计算机。如图2所示，为激励测试BIT(机内自测试，Built In Test)常见解决方案，BIT计算机输出测试信号给系统内的各个电路模块，系统内的软件和硬件模块按照信号传递进行输出，最后反馈给BIT计算机。

目前的测试性建模方法并未区分有激励测试和无激励测试，将所有测试都当作无激励测试处理。虽然通过功能绑定的建模方式能够得到正确的D矩阵关系，但在应用D矩阵进行诊断时，由于没有对激励测试进行标识和说明，导致诊断测试时没有施加相关激励，测试结果不准确，最终导致基于D矩阵的诊断结果不正确。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法，在建立诊断关系矩阵时考虑激励测试，获取描述测试与激励关联关系的矩阵ET、描述激励源与故障可达关系的矩阵FE、描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT₁、描述故障与激励测试可达关系的矩阵FT₂等，通过合成计算，得到最后描述故障、测试、激励复合关系的矩阵D，根据该复合关系矩阵，进行故障诊断。

本发明提供的一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法，包括以下几个步骤：

步骤1：首先获得系统的激励与激励测试的关联关系矩阵ET，然后获得系统的激励与故障的可达关系矩阵FE，根据矩阵ET和FE，获得描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT₁。

设系统中存在m个部件、l个激励测试、k个激励，用F_i表示第i个部件故障，m、l、k均为正整数；所获得的矩阵FT₁为m×l的矩阵，矩阵FT₁的元素z_ij(i≤m，j≤l)如下：

z_ij＝1，表示系统中，与某测试T_j绑定的激励，能够传递到故障F_i；

z_ij＝0，表示系统中，与某测试T_j绑定的激励，不能够传递到故障F_i。