[发明专利]一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置

权利要求书

1.一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，包括一号激光二极管(1)，二号激光二极管(2)，一号准直透镜(3)，二号准直透镜(4)，一号平行平板(5)，二号平行平板(6)，立方棱镜(7)，辅助装置光电自准直仪(8)，其特征在于：

所述的立方棱镜光校装置位于望远镜测试装置光路中间，左侧为带有光轴基准镜的反射式或透射式望远镜，右侧为参考平面镜，分别位于一号准直透镜(3)和二号准直透镜(4)焦面位置的一号激光二极管(1)和二号激光二极管(2)出射准直激光到立方棱镜(7)的A和B面上，透射一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成异向的接近180度的两束激光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜上与测试参考平面镜上，调整本装置的角度，使到光学系统的光轴基准镜的激光光束原路返回到号激光二极管(1)出射口，再调整测试参考平面镜，使得入射至参考平面镜的激光光束反射后原路返回二号激光二极管(2)出射口；辅助测试设备光电自准直仪(8)出射十字叉丝激光，同时入射到立方棱镜(7)的D和C面上，反射后分别透射过平行度优于3秒的一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成180度的两束平行光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜与测试参考平面镜，返回进入光电自准直仪(8)，调整本装置和测试参考平面镜，使得光电自准直仪(8)中，望远镜光学系统光轴基准镜返回来的十字叉丝，测试参考平面镜返回来的十字叉丝，本立方棱镜光校装置本身的十字叉丝，三个十字叉丝重合，即完成了光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与监测。

2.根据权利要求1所述的一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，其特征在于：所述的一号平行平板(5)和二号平行平板(6)为透射石英材料，前后两面的平行度优于3秒，透射波前RMS值优于1/15个波长，表面不镀膜，其中波长为633nm。

3.根据权利要求1所述的一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，其特征在于：所述的立方棱镜(7)为石英材料棱镜，垂直角差与塔差均优于3秒，六个面型RMS优于1/15波长，六面镀铝反射膜，反射率大于90％，其中波长为633nm。

4.根据权利要求1所述的一种实时瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，其特征在于：所述的一号激光二极管(1)和二号激光二极管(2)为可见激光二极管。

5.根据权利要求1所述的一种实时瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，其特征在于：所述的一号准直透镜(3)和二号准直透镜(4)为透射石英透镜。