[发明专利]用于扫描细长结构的方法和扫描系统

权利要求书

1.一种扫描系统(106)，该扫描系统(106)包括：

平移结构(110)，该平移结构(110)被配置为在细长结构(102)上轴向地移动和旋转地移动；

扫描仪(112)，该扫描仪(112)连接到所述平移结构(110)；以及

控制器(114)，该控制器(114)与所述平移结构(110)和所述扫描仪(112)通信，其中，所述控制器(114)在所述扫描仪(112)执行所述细长结构(102)的轴向扫描(124)的同时控制所述平移结构(110)沿着所述细长结构(102)轴向地移动，并且在所述扫描仪(112)执行所述细长结构(102)的旋转扫描(126)的同时控制所述平移结构(110)围绕所述细长结构(102)旋转地移动，

其中，在所述细长结构(102)的所述轴向扫描(124)期间，所述控制器(114)使所述平移结构(110)沿着所述细长结构(102)的长度轴向地移动并监测不一致(108)，

其中，所述控制器(114)使所述平移结构(110)在检测到所述不一致(108)的位置(130)处围绕所述细长结构(102)旋转地移动，并且所述控制器(114)检测所述细长结构(102)在所述位置(130)处的所述旋转扫描(126)期间的数据(132)。

2.根据权利要求1所述的扫描系统(106)，其中，下列项中的至少一个：

所述平移结构(110)沿着所述细长结构(102)的长度移动，并且在完成所述细长结构(102)的所述轴向扫描(124)之后轴向地移动以返回到所述位置(130)，并且在所述位置(130)处旋转地移动并在所述位置(130)处执行所述旋转扫描(126)；以及

所述平移结构(110)在所述位置(130)处停止沿着所述细长结构(102)的长度进行的轴向移动，并且在执行所述旋转扫描(126)的同时在所述位置(130)处围绕所述细长结构(102)旋转地移动。

3.根据权利要求1所述的扫描系统(106)，其中，所述平移结构(110)包括：

托架(200)，该托架(200)被配置为自身附接到所述细长结构(102)；以及

移动系统(202)，该移动系统(202)被配置为使所述托架轴向地移动和旋转地移动。

4.根据权利要求3所述的扫描系统(106)，其中，下列项中的至少一个：

所述托架(200)被配置为自身附接到所述细长结构(102)，使得轮系统按照允许所述轮系统使所述托架(200)轴向地移动和旋转地移动的方式接触所述细长结构(102)；以及

所述移动系统(202)包括辊、轮子和轨道中的至少一种。

5.根据权利要求4所述的扫描系统(106)，其中，所述轮子包括完整轮。

6.根据权利要求1所述的扫描系统(106)，其中，所述平移结构(110)按照螺旋扫描路径(702)、栅格扫描路径(804)或锯齿扫描路径(902)中的至少一个移动。

7.根据权利要求1所述的扫描系统(106)，其中，下列项中的至少一个：

所述平移结构(110)选自包括以下项的组：机动臂、履带臂和基于轨道的臂；

所述扫描仪(112)包括X射线扫描系统、后向散射X射线系统或贯穿透射X射线系统中的至少一个；

所述细长结构(102)选自管道(104)、滚筒、结构梁、风力涡轮机叶片和桩中的一个；以及

所述扫描仪(112)被配置为将能量引导在所述细长结构(102)处并检测对引导在所述细长结构(102)处的所述能量的响应，并且

其中，所述能量选自包括以下项的组：X射线、超声辐射、紫外辐射、电磁辐射、红外辐射和微波辐射。

8.根据权利要求7所述的扫描系统(106)，其中，所述管道包括导管。

9.根据权利要求7所述的扫描系统(106)，其中，所述结构梁包括纵梁。