[发明专利]存储器设备、存储器系统和存储器设备的操作方法

说明书

提供了存储器设备及其操作方法。存储器设备包括：至少一个内部电路，该内部电路包括存储单元阵列和被配置为驱动存储单元阵列的外围电路；监控逻辑，被配置为监控流入至少一个内部电路的电流并且输出监控结果；检测逻辑，被配置为基于监控结果来检测漏电流是否在至少一个内部电路中流动，并且输出检测的关于漏电流的信息；以及诊断逻辑，被配置为基于检测的信息来诊断至少一个内部电路中的错误。

对相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年6月13日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2017-0074015号的优先权，该韩国专利申请的公开内容通过引用整体并入于此。

背景技术

本发明构思涉及存储器设备，并且更具体地涉及，被配置为通过检测漏电流来诊断错误的存储器设备、包括该存储器设备的存储系统和/或操作该存储器设备的方法。

诸如动态随机存取存储器(DRAM)的半导体存储器设备被广泛用作电子系统(包括计算机和便携式电子设备)的主存储器。在活动模式下，存储器设备不可避免地消耗电力以用于执行各种存储器操作(例如，写入操作、读取操作、擦除操作和/或刷新操作)。在除了活动模式之外的空闲状态下，存储器设备以待机模式进行操作以最小化功耗。然而，由于存储器设备的小型化，待机状态下的漏电流(leakage current)的幅度倾向于逐渐增加。存储器设备在物联网(IoT)领域被广泛使用。因此，待机状态下的漏电流问题变得更加显着。

发明内容

本发明构思提供了存储器设备、包括该存储器设备的存储器系统以及操作该存储器设备的方法，并且更具体地，提供了被配置为通过检测漏电流来诊断错误的存储器设备、包括该存储器设备的存储器系统以及操作该存储器设备的方法。

根据本发明构思的示例实施例，一种存储器设备可以包括：至少一个内部电路，包括存储单元阵列和被配置为驱动存储单元阵列的外围电路；监控逻辑，被配置为监控流入至少一个内部电路的电流并且输出监控结果；检测逻辑，被配置为基于监控结果检测漏电流是否在至少一个内部电路中流动，并且输出检测的关于漏电流的信息；以及诊断逻辑，被配置为基于检测的信息来诊断至少一个内部电路中的错误。

根据本发明构思的示例实施例，一种存储器设备可以包括：电源；至少一个内部电路，被配置为从电源接收电压；以及错误检测电路，被配置为在待机模式下检测流入内部电路的漏电流，并且基于关于漏电流的信息检测关于至少一个内部电路的错误。

根据本发明构思的示例实施例，一种操作存储器设备的方法可以包括：在待机模式下，监控流入被配置为驱动存储器设备的存储单元的至少一个内部电路的电流并且输出监控结果；基于监控结果，检测关于在至少一个内部电路中流动的漏电流的信息；基于关于漏电流的信息，诊断在至少一个内部电路中是否发生了错误；以及响应于指示在至少一个内部电路中已经发生错误的诊断结果，向存储器设备外部的外部设备输出错误警告信号。

附图说明

根据以下结合附图的详细描述，将更清楚地理解本发明构思的示例实施例，在附图中：

图1是示出根据示例实施例的包括存储器设备的存储器系统的图；

图2是根据示例实施例的错误检测电路的功能组件的框图；

图3是用于描述根据示例实施例的监控逻辑的操作的图；

图4A和图4B是用于描述根据示例实施例的存储器设备的操作的曲线图；

图5是示出根据示例实施例的核心/外围电路的框图；

图6是根据示例实施例的监控逻辑的功能组件的框图；

图7A和图7B是用于描述根据示例实施例的存储器设备的操作的曲线图；

图8是根据另一示例实施例的错误检测电路的功能组件的框图；